[发明专利]电子设备模态测试系统和方法、及行波管慢波结构模态测试系统在审
| 申请号： | 201510412601.8 | 申请日： | 2015-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN105043700A | 公开（公告）日： | 2015-11-11 |
| 发明（设计）人： | 朱军华;宋芳芳;苏伟;刘人怀;恩云飞 | 申请（专利权）人： | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 主分类号： | G01M7/02 | 分类号： | G01M7/02 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 李巍 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种电子设备模态测试系统，包括激振单元、测量单元和信号处理单元，所述激振单元包括用于固定被测电子设备的夹具及与所述夹具刚性连接的激振器，所述测量单元包括装设于测振参考点的传感器及沿所述被测电子设备激振方向布置的激光测振装置，所述信号处理单元包括与所述传感器和所述激光测振装置连接的计算机系统。该测试系统通过激振器产生振动并经夹具传递到被测电子设备，可避免直接激振带来的附加刚度影响，通过将所述测振参考点的响应作为激励计算各测点的传递函数，从而在激励未知的情况下仍可利用试验模态分析方法识别模态参数，可避免虚假或遗漏模态问题，且计算量小。本发明还提供电子设备模态测试方法以及行波管慢波结构模态测试系统。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 测试 系统 方法 行波 管慢波 结构 | ||
【主权项】：
一种电子设备模态测试系统，包括激振单元、测量单元和信号处理单元，其特征在于：所述激振单元包括用于固定被测电子设备的夹具及与所述夹具刚性连接的激振器，所述测量单元包括装设于预设测振参考点上的传感器及沿所述被测电子设备激振方向布置的激光测振装置，所述信号处理单元包括与所述传感器和所述激光测振装置连接的计算机系统。
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