[发明专利]一种集成电路测试装置的送料机构在审
| 申请号： | 201510411064.5 | 申请日： | 2015-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN105083964A | 公开（公告）日： | 2015-11-25 |
| 发明（设计）人： | 韩笑 | 申请（专利权）人： | 杭州长川科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/74 | 分类号： | B65G47/74;G01R31/28 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路测试装置的送料机构，包括底板、设置在底板上的料栈和推送机构；所述推送机构包括设置在所述底板上面的送料块机构和设置在所述底板下面用于驱动所述送料块机构往复移动的驱动机构；所述料栈包括料槽体和挡板；所述挡板包括分别设置在所述料槽体开口两侧的第一挡板和第二挡板；所述第一挡板相对第二挡板向上错位设置形成一出料口并至少在所述第一挡板或第二挡板的一个上设有调节槽。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 装置 机构 | ||
【主权项】：
一种集成电路测试装置的送料机构，包括底板、设置在底板上的料栈和推送机构；其特征在于：所述推送机构包括设置在所述底板上面的送料块机构和设置在所述底板下面用于驱动所述送料块机构往复移动的驱动机构；所述料栈包括料槽体和挡板；所述挡板包括分别设置在所述料槽体开口两侧的第一挡板和第二挡板；所述第一挡板相对第二挡板向上错位设置形成一出料口并至少在所述第一挡板或第二挡板的一个上设有调节槽。
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