[发明专利]一种JAVA卡上原子性测试方法及装置在审
| 申请号： | 201510404187.6 | 申请日： | 2015-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN106021088A | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | 仲倩黎 | 申请（专利权）人： | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102209 北京市昌平区北七家未*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种JAVA卡上原子性测试方法及装置，该方法为：应用断电读卡器，在测试命令的执行过程中进行断电，根据断电后卡片所处的状态，判断测试命令是否具有原子性。首先量取测试命令的完整执行时间，并列出测试命令允许的断电后的卡状态；然后按照读卡器所能提供的步长，对该测试命令进行时间递增的断电；断电后对卡状态进行检查，与所列状态不符则测试结束，相符则增加一个步长继续断电。该方法能够对测试命令的全部执行过程进行断电，解决了测试命令写内存时间范围不能准确定位，并且次数较多，传统的断电测试方法不适用于JAVA卡的问题，提高了测试效率和测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 java 原子 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种JAVA卡上原子性测试方法，其特征在于，该方法包括：确定断电时间范围，确定卡片原子性状态；在断电时间范围内，对JAVA卡进行断电测试。
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