[发明专利]集成电路及其具自我静电保护的输出缓冲器在审

专利信息
申请号: 201510388006.5 申请日: 2015-07-03
公开(公告)号: CN106328648A 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 林硕彦;林欣逸 申请(专利权)人: 台湾类比科技股份有限公司
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L27/02;H01L23/60
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 代理人: 梁挥,鲍俊萍
地址: 中国台湾*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种集成电路及其具自我静电保护的输出缓冲器,该集成电路包含多个输出缓冲器,多个输出缓冲器连接至多个输出接垫与内部集成电路单元之间,各该输出缓冲器包含:一标准MOS元件区域,包含有多个第一MOS元件,各该第一MOS元件的栅极区共同连接至该内部集成电路;以及一静电防护增强型MOS元件区域,包含有多个第二MOS元件,各该第二MOS元件的栅极区共同连接至该内部集成电路;其中各该第二MOS元件漏极区的接触层一侧与其多晶硅区最近的一长侧的间距大于各该第一MOS元件的漏极区的接触层一侧与其多晶硅区最近的一长侧的间距;各该第二MOS元件的漏极区的杂质掺杂区下方形成有一相异极性杂质的掺杂区,以降低金氧半元件的触发电压,加速导通以快速排除静电。
搜索关键词: 集成电路 及其 自我 静电 保护 输出 缓冲器
【主权项】:
一种集成电路,包括一内部集成电路单元、多个输出接垫及多个具自我静电保护的输出缓冲器;其中该多个输出缓冲器分别连接至该多个输出接垫与该内部集成电路单元之间,且各该输出缓冲器的布局结构包含有:一标准金氧半MOS元件区域,包含有多个第一MOS元件,各该第一MOS元件的栅极区共同连接至该内部集成电路;以及一静电防护增强型MOS元件区域,包含有多个第二MOS元件,各该第二MOS元件的栅极区共同连接至该内部集成电路;其中各该第二MOS元件漏极区的接触层一侧与其多晶硅区最近的一长侧之间距大于各该第一MOS元件的漏极区的接触层一侧与其多晶硅区最近的一长侧的间距;又各该第二MOS元件的漏极区的杂质掺杂区下方再形成有一相异极性杂质的掺杂区。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾类比科技股份有限公司,未经台湾类比科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510388006.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top