[发明专利]一种基于分段算法的毫米波平面扫描成像方法有效
| 申请号: | 201510387829.6 | 申请日: | 2015-07-02 |
| 公开(公告)号: | CN105158810B | 公开(公告)日: | 2017-08-25 |
| 发明(设计)人: | 孙晓玮;朱玉琨;杨明辉;孙芸 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号: | G01V5/00 | 分类号: | G01V5/00;G01S13/89 |
| 代理公司: | 上海泰能知识产权代理事务所31233 | 代理人: | 宋缨,孙健 |
| 地址: | 200050 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明涉及一种基于分段算法的毫米波平面扫描成像方法,包括以下步骤在毫米波扫描平面上获得信号f(x,y,ω);将所述信号f(x,y,ω)按照天线波束的张角来进行分段;将上述分段信号做关于x和y的二维离散傅里叶变换;通过相位修正因子得到相位修正信号;将相位修正信号从均匀的(kx,ky,ω)域插值到均匀取样的(kx,ky,kz)域上;用三维离散傅里叶逆变换处理经过上述处理的信号得到g1(x,y,z),g2(x,y,z),...,gn(x,y,z);计算g1(x,y,z),g2(x,y,z),...,gn(x,y,z)的幅度,然后将它们按照原来的位置叠加在一起形成目标的整个结果得到目标图像。本发明可获得更加清晰的成像结果。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 基于 分段 算法 毫米波 平面 扫描 成像 方法 | ||
【主权项】:
一种基于分段算法的毫米波平面扫描成像方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)在毫米波扫描平面上获得信号f(x,y,ω),其中,信号f(x,y,ω)为复数信号,x为毫米波扫描平面的横轴,y为毫米波扫描平面的纵轴,ω为毫米波前端发射信号频率;(2)将所述信号f(x,y,ω)按照天线波束的张角来进行分段,得到f1(x,y,ω),f2(x,y,ω),...,fn(x,y,ω);(3)将分段信号做关于x和y的二维离散傅里叶变换,得到信号F1(kx,ky,ω),F2(kx,ky,ω),...,Fn(kx,ky,ω),其中,kx和ky分别是对应于x和y的空间波数;(4)将信号F1(kx,ky,ω),F2(kx,ky,ω),...,Fn(kx,ky,ω)乘以一个相位修正因子得到相位修正信号;(5)将相位修正信号从均匀的(kx,ky,ω)域插值到均匀取样的(kx,ky,kz)域上,其中,kz是对应于z的空间波数,z为垂直于毫米波扫描平面的轴;(6)用三维离散傅里叶逆变换处理经过步骤(5)处理后的信号得到g1(x,y,z),g2(x,y,z),...,gn(x,y,z);(7)计算g1(x,y,z),g2(x,y,z),...,gn(x,y,z)的幅度,然后将它们按照原来的位置叠加在一起形成目标的整个结果得到目标图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所,未经中国科学院上海微系统与信息技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510387829.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种化学发光免疫分析仪的加样臂
- 下一篇:确定TOC含量的方法和装置





