[发明专利]一种检测范围自适应的模拟量检测电路及检测方法

摘要

本发明公开了一种检测范围自适应的模拟量检测电路及检测方法，所述电路包括依次连接的前端处理电路、A/D转换芯片及MCU处理器，所述方法包括步骤A、设定A/D转换芯片的检测范围；步骤B、对输入到A/D转换芯片内的模拟量进行一次初检测；步骤C、通过MCU处理器判断所述步骤B的初检测值，确定一个适合该初检测值的最小检测范围；步骤D，经步骤C后，再进行一次模拟量检测，输出转换结果；通过检测范围自适应的模拟量检测电路可实现检测范围自适应的模拟量检测，利用检测范围自适应的模拟量检测方法，在AD的位数一定的情况下，通过算法自动识别当前模拟量，自适应调节到使电路精度最高的检测范围，实现最优精度的模拟量检测。

主权项

1.一种检测范围自适应的模拟量检测方法，其特征在于：通过检测范围自适应的模拟量检测电路可实现检测范围自适应的模拟量检测；所述模拟量检测电路包括依次连接的前端处理电路、A/D转换芯片及MCU处理器；所述前端处理电路，接收输入模拟量，完成滤波操作，滤除不需要的杂波信号，并将滤除杂波信号的模拟量信号输入到A/D转换芯片内；所述A/D转换芯片，接收来至前端处理电路的模拟量信号，并完成相应的AD转换，同时受MCU处理器控制；所述MCU处理器，发送控制信号至A/D转换芯片内，根据实际模拟量实时调节改变A/D转换芯片的检测范围；所述A/D转换芯片为单通道A/D转换芯片或多通道A/D转换芯片，所述多通道A/D转换芯片的通道数为N，且N为自然数；所述MCU处理器为单片机或DSP器件或FPGA器件或CPLD器件；所述模拟量检测方法，包括以下步骤：步骤A、设定A/D转换芯片的检测范围；步骤B、对输入到A/D转换芯片内的模拟量进行一次初检测；步骤C、通过MCU处理器判断所述步骤B的初检测值，确定一个适合该初检测值的最小检测范围；步骤D，经步骤C后，再进行一次模拟量检测，输出转换结果；在所述步骤B中，对单通道A/D转换芯片内的模拟量进行一次初检测时，不输出该次的转换结果；对多通道A/D转换芯片内的模拟量进行一次初检测包括仅对设置为最大检测范围的通道的模拟量进行一次初检测和对所有通道的模拟量进行一次初检测；所述步骤C包括以下具体方法：步骤C.1、针对单通道A/D转换芯片，通过MCU处理器判断所述步骤B的初检测值，确定一个适合该初检测值的最小检测范围并再次对单通道A/D转换芯片进行初始化设置；步骤C.2、针对多通道A/D转换芯片，包括：步骤C.2.1、当仅对设置为最大检测范围的通道的模拟量进行一次初检测时，通过MCU处理器判断设置为最大检测范围的通道初检测值，确定一个适合设置为最大检测范围的通道初检测值的最小检测范围及最小检测范围所对应的所述设置为最大检测范围的通道；步骤C.2.2、当对所有通道的模拟量进行一次初检测时，通过MCU处理器判断N个通道初检测值后，确定一个适合N个通道初检测值的最小检测范围及最小检测范围所对应的通道N。