[发明专利]硅基锗光电探测器在审

专利信息
申请号: 201510382643.1 申请日: 2015-07-02
公开(公告)号: CN106328751A 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 周治平;涂芝娟;华锋;王会涛;张琦 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H01L31/101 分类号: H01L31/101
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所44287 代理人: 胡海国
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种硅基锗光电探测器,包括由上至下依次层叠的光波导层、硅氧化层和硅衬底,所述光波导层包括沿着光信号的传播方向依次分布的光耦合区、平面光波导区和光输出区,所述光耦合区上形成有用于接收光信号并将所述光信号引导至所述平面光波导区的耦合光栅;所述硅基锗光电探测器还包括叠在所述光输出区上的锗层、叠在所述锗层上的硅覆盖层、形成在所述硅覆盖层上的第一电极和形成在所述光输出区上的第二电极,所述锗层接收来自所述光输出区的光信号并将所述光信号转换为电信号。通过引入硅覆盖层,大大提高了带宽,同时大大降低了器件的暗电流,使器件的综合性能指标得到提高,能更好地满足高速光通信和光互连系统的要求。
搜索关键词: 硅基锗 光电 探测器
【主权项】:
一种硅基锗光电探测器,其特征在于,包括由上至下依次层叠的光波导层、硅氧化层和硅衬底,所述光波导层包括沿着光信号的传播方向依次分布的光耦合区、平面光波导区和光输出区,所述光耦合区上形成有用于接收光信号并将所述光信号引导至所述平面光波导区的耦合光栅;所述硅基锗光电探测器还包括叠在所述光输出区上的锗层、叠在所述锗层上的硅覆盖层、形成在所述硅覆盖层上的第一电极和形成在所述光输出区上的第二电极,所述锗层接收来自所述光输出区的光信号并将所述光信号转换为电信号。
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