[发明专利]获得测量光谱的方法有效
| 申请号： | 201510378234.4 | 申请日： | 2015-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN104977085B | 公开（公告）日： | 2017-08-25 |
| 发明（设计）人： | 贺和好;贺孝孝 | 申请（专利权）人： | 杭州路弘科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/457 | 分类号： | G01J3/457 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310052 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种获得测量光谱的方法，包括以下步骤a、参考光经过入射狭缝、色散元件、出射狭缝后被接收，上述光路中还放置有光学平板；随着色散元件的转动，逐步得到包含相对波数信息、具有周期性的参考信号；b、提取所述参考信号中的特征点，所述特征点与所述色散元件的所处位置对应；c、测量光经过所述入射狭缝、所述色散元件、所述出射狭缝后被接收；当所述色散元件转动到所述特征点对应的色散元件所处位置时，触发测量光信号的采集，从而得到测量光强度与相对波数对应的测量光谱。本发明结构简单、性能好、定标容易。 | ||
| 搜索关键词： | 获得 测量 光谱 方法 | ||
【主权项】：
一种获得测量光谱的方法，包括以下步骤：a、光源发出的参考光通过第一光纤传输至准直透镜前，经准直后穿过光学平板，再经另设的透镜会聚在第二光纤中，经所述第二光纤传输至控制装置，所述控制装置使参考光通过，测量光不通过，参考光再经第三光纤传输到入射狭缝前；参考光经过入射狭缝、色散元件、出射狭缝后被接收，参考光经过光学平板时发生多光束干涉，从而形成etalon条纹；随着色散元件的转动，逐步得到包含相对波数信息、具有周期性的参考信号；b、提取所述参考信号中的特征点，所述特征点与所述色散元件的所处位置对应；c、光源发出的测量光经第四光纤后照射到被测样品上，在样品上产生的漫反射光被收集后通过第五光纤传输到所述控制装置，控制装置使测量光通过，参考光不通过，测量光再经过第三光纤传输到所述入射狭缝；测量光经过所述入射狭缝、所述色散元件、所述出射狭缝后被接收；当所述色散元件转动到所述特征点对应的色散元件所处位置时，触发测量光信号的采集，从而得到测量光强度与相对波数对应的测量光谱。
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