[发明专利]一种掺杂优化的超低衰减单模光纤有效

专利信息
申请号: 201510359450.4 申请日: 2015-06-25
公开(公告)号: CN104898200B 公开(公告)日: 2018-03-16
发明(设计)人: 张磊;龙胜亚;朱继红;吴俊;王瑞春 申请(专利权)人: 长飞光纤光缆股份有限公司
主分类号: G02B6/028 分类号: G02B6/028;G02B6/036
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司42102 代理人: 胡建平
地址: 430073 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种掺杂优化的超低衰减单模光纤,包括有芯层,芯层外从内向外依次包覆内包层,下陷内包层,辅助外包层和外包层,其特征在于芯层中氟的含量小于或等于0.5wt%,锗的相对折射率贡献量小于或等于0.12%,Δn1小于或等于0.12%,内包层中氟的含量为0.5‑1.5wt%,Δn2小于或等于‑0.14%,下陷内包层中氟的含量为1‑3wt%,Δn3小于或等于‑0.25%,辅助外包层中氟的含量为0.5‑2wt,Δn4小于或等于‑0.14%,所述的外包层为纯二氧化硅玻璃层和/或金属掺杂的二氧化硅玻璃层。本发明降低了芯层粘度,使其能与内薄层和下陷包层更好的匹配,并结合金属掺杂的匹配粘度外包层,整体降低光纤虚拟温度,同时通过下陷包层设计,抑制基模泄露,从而实现超低衰减性能。
搜索关键词: 一种 掺杂 优化 衰减 单模 光纤
【主权项】:
一种掺杂优化的超低衰减单模光纤,包括有芯层,芯层外从内向外依次包覆内包层,下陷内包层,辅助外包层和外包层,其特征在于所述的芯层中氟的含量小于或等于0.5wt%,锗的相对折射率贡献量小于或等于0.12%,芯层的相对折射率Δn1小于或等于0.12%,所述的内包层中氟的含量为0.5‑1.5wt%,内包层的相对折射率Δn2小于或等于‑0.14%,所述的下陷内包层中氟的含量为1‑3wt%,下陷内包层的相对折射率Δn3小于或等于‑0.25%,所述的辅助外包层中氟的含量为0.5‑2wt,辅助外包层相对折射率Δn4小于或等于‑0.14%,所述的外包层为金属掺杂的二氧化硅玻璃层;所述的内包层半径r2为10~14μm,所述的下陷内包层半径r3为12.5~17μm,所述的辅助外包层半径r4为40~50μm;所述的外包层直径为125μm。
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