[发明专利]背光图像微米级边缘检测方法有效

专利信息
申请号: 201510346921.8 申请日: 2015-06-19
公开(公告)号: CN105005985B 公开(公告)日: 2017-10-31
发明(设计)人: 赵文辉;赵文珍;段振云;王宁 申请(专利权)人: 沈阳工业大学
主分类号: G06T7/13 分类号: G06T7/13
代理公司: 沈阳亚泰专利商标代理有限公司21107 代理人: 许宇来
地址: 110870 辽宁省沈阳*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 背光图像微米级边缘检测方法属于高精度检测技术领域,尤其涉及一种背光图像微米级边缘检测方法。本发明提供一种曲面拟合精度高、抗干扰的背光图像微米级边缘检测方法。本发明包括以下步骤1)结合点扩散函数和单边阶跃模型,构建背光图像阶跃边缘法平面截线正态分布函数模型;背光源边缘检测图像的前景和背景为常量P1、P2,背景与前景的灰度差为g=P2‑P1,灰度曲面过边缘法平面的截线为正态分布函数(高斯积分)曲线则图像边缘点过曲线的中心点在图像平面的投影,或t‑μ=0。
搜索关键词: 背光 图像 微米 边缘 检测 方法
【主权项】:
背光图像微米级边缘检测方法,其特征在于包括以下步骤:1)结合点扩散函数和单边阶跃模型,构建背光图像阶跃边缘法平面截线正态分布函数模型;背光源边缘检测图像的前景和背景为常量P1、P2,背景与前景的灰度差为g=P2‑P1灰度曲面过边缘法平面的截线为正态分布函数(高斯积分)曲线:则式中:R——理论边界坐标σ——高斯分布方差t——边缘法向坐标μ——高斯分布期望图像边缘点过曲线的中心点在图像平面的投影,或t‑μ=0;2)过渡带离散点曲面拟合求解μ,σ沿边缘线S方向在邻域内呈线性变化μs=μ0+ks   (1)σs=σ0+ls   (2)由查标准正态分布表得到将(1)、(2)式代入,得t‑μ0‑ks=a(σ0+ls)用最小二乘法求取拟合曲面四个系数μ0,σ0,k,l,使趋于最小,使得其中,表示平均值;3)分段提取边缘曲面亚像素边缘在图像平面内建立边缘曲线活动坐标系;以像素级别的粗边界曲线方向为活动坐标系的一个坐标,以曲线弧长作为其坐标值;以粗边界曲线的法线方向为活动坐标系的另一个坐标,以点到曲线的法向距离作为其坐标值;以计算点为中心选取曲面拟合区域;在边缘法线方向上,区域包含边缘过渡区和前景与背景图像部分;将选取区域内点的图像坐标转换为边缘曲线的活动坐标,得到ti、si及相应的灰度值pi;根据pi/g查标准正态分布表,得到ai;求得 μ0,即边缘到粗边界曲线的法向距离,得到精确的边缘曲线。
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