[发明专利]一种用于加速芯片仿真和调试的方法和芯片测试系统在审
| 申请号： | 201510325694.0 | 申请日： | 2015-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN106291312A | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 张力 | 申请（专利权）人： | 超威半导体（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海胜康律师事务所31263 | 代理人： | 樊英如,李献忠 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张江高科*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于在芯片测试系统中加速芯片仿真和调试的方法，所述芯片测试系统包括待测子系统和激励子系统，其中，所述激励子系统充当所述待测子系统的激励源并且为所述待测子系统提供激励信号，其中，所述激励子系统能够被虚拟激励发生器替换，所述虚拟激励发生器被配置成产生虚拟激励信号，所述虚拟激励信号与所述激励子系统的激励信号相同。此外，本发明还涉及一种配置成用于实现在芯片测试系统中加速芯片仿真和调试的方法的芯片测试系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 加速 芯片 仿真 调试 方法 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种用于在芯片测试系统中加速芯片仿真和调试的方法，所述芯片测试系统包括待测子系统和激励子系统，其中，所述激励子系统充当所述待测子系统的激励源并且为所述待测子系统提供激励信号，所述方法包括：‑从第一时间点(T1)开始，在芯片测试系统中运行芯片测试程序；‑从所述第一时间点(T1)开始，记录所述激励子系统的激励信号(S1)；‑如果所述待测子系统的响应信号在第二时间点(T2)发生错误，则停止运行所述芯片测试程序，并且利用所记录的激励信号(S1)生成虚拟激励发生器，其中，所述虚拟激励发生器被配置成产生虚拟激励信号(S2)，所述虚拟激励信号(S2)与所述激励子系统从所述第一时间点(T1)至所述第二时间点(T2)所提供的激励信号(S1)相同；‑修改至少一个芯片设计参数；以及‑利用所述虚拟激励发生器替换所述激励子系统，并且通过使用所述虚拟激励发生器作为所述待测子系统的激励源在所述芯片测试系统中从所述第一时间点(T1)开始重新运行所述芯片测试程序。
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