[发明专利]一种板壳结构表面位移场的测量系统在审

专利信息
申请号: 201510313202.6 申请日: 2015-06-09
公开(公告)号: CN104897065A 公开(公告)日: 2015-09-09
发明(设计)人: 熊勃勃;高世凯;乔一帆 申请(专利权)人: 河海大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林;汪庆朋
地址: 210024 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种板壳结构表面位移场的测量系统,包括实验台、待测板壳结构、长效夜光沙、数据处理计算机和Z向、X向及第三台工业照相机;Z向、X向及第三台工业照相机在黑暗条件下拍摄待测板壳结构的荧光斑点数字图,然后将荧光斑点数字图传入数据处理计算机;数据处理计算机对Z向和X向工业照相机采集的荧光斑点数字图进行图形处理与转换获得数字像素,再经过全场匹配得到待测板壳结构表面的三维位移场;对第三台工业照相机采集的荧光斑点数字图进行图形处理与转换获得数字像素,校正获得最终的校正结果;最后将不同时刻、各个象素点的位置变化并连成整个位移场。本发明可实现整个板壳结构表面的三维位移场的测量,测量结果精度高。
搜索关键词: 一种 结构 表面 位移 测量 系统
【主权项】:
一种板壳结构表面位移场的测量系统,其特征在于,包括实验台(7)、安装在实验台(7)上位置及角度可调的待测板壳结构(5)、均匀设置在待测板壳结构(5)上的长效夜光沙(6)、数据处理计算机(4)和安装在待测板壳结构(5)上方能够拍摄到整个待测板壳结构(5)待测面的Z向工业照相机(1)、X向工业照相机(2)及拍摄角度可调的第三台工业照相机(3);所述Z向工业照相机(1)、X向工业照相机(2)及第三台工业照相机(3)在黑暗条件下拍摄待测板壳结构(5)在变形过程中各时刻的荧光斑点数字图,然后将各时刻采集到的荧光斑点数字图传入数据处理计算机(4);所述数据处理计算机(4)首先对Z向工业照相机(1)和X向工业照相机(2)采集的荧光斑点数字图进行图形处理与转换获得数字像素,再经过全场匹配计算得到待测板壳结构(5)表面的三维位移场;然后对所述第三台工业照相机(3)采集的荧光斑点数字图进行图形处理与转换获得数字像素,从而对计算得到的三维位移场进行校正获得最终的校正结果;最后,将不同时刻、各个象素点的位置变化并连成整个位移场。
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