[发明专利]绿光LED芯片外延层的结构及生长方法有效
| 申请号: | 201510309152.4 | 申请日: | 2015-06-08 |
| 公开(公告)号: | CN105047772B | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
| 发明(设计)人: | 刘炜;赵德刚;陈平;刘宗顺;朱建军;江德生 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号: | H01L33/06 | 分类号: | H01L33/06;H01L33/32;H01L33/14;H01L33/00 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 任岩 |
| 地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 一种绿光LED芯片外延层的结构,包括一衬底;一GaN缓冲层,其生长在衬底上;一非掺杂GaN层,其生长在GaN缓冲层上;一N型GaN层,其生长在非掺杂GaN层上;一第一阶梯层,其生长在N型GaN层上;一多量子阱区,其生长在第一阶梯层上;一第二阶梯层,其生长在多量子阱区上;一P型GaN层,其生长在第二阶梯层上;一欧姆接触层,其生长在P型GaN层上。本发明通过在MQW区内采用InGaN垒层以及增加阶梯层结构,提高空穴的注入效率,减少电子的泄露,同时减小量子阱中的QCSE效应,实现对绿光LED发光效率的提升和对droop效应的抑制。 | ||
| 搜索关键词: | led 芯片 外延 结构 生长 方法 | ||
【主权项】:
一种绿光LED芯片外延层的结构,包括:一衬底;一GaN缓冲层,其生长在衬底上;一非掺杂GaN层,其生长在GaN缓冲层上;一N型GaN层,其生长在非掺杂GaN层上;一第一阶梯层,其生长在N型GaN层上;一多量子阱区,其生长在第一阶梯层上,该多量子阱区由周期性重复排列的InGaN垒层和InGaN阱层构成;一第二阶梯层,其生长在多量子阱区上;一P型GaN层,其生长在第二阶梯层上;一欧姆接触层,其生长在P型GaN层上;所述第一阶梯层,用于降低电子的速度,减少由于弹道发射机制造成的电子的溢出或者泄露,抑制droop效应;所述第一阶梯层,在N型GaN层与多量子阱区间起缓冲和过渡的作用,减少界面处的晶格失配度;所述第二阶梯层,在P型GaN层多量子阱区间起缓冲和过渡的作用,减少界面处的晶格失配度;其中第一阶梯层和第二阶梯层的材料均为InGaN,该第一阶梯层和第二阶梯层为非掺杂的低In组分为InGaN层,厚度为3‑30nm,且其In组分为InGaN垒层中In组分的20%‑80%。
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