[发明专利]半导体存储器件及其操作方法在审
申请号: | 201510280646.4 | 申请日: | 2015-05-27 |
公开(公告)号: | CN106205697A | 公开(公告)日: | 2016-12-07 |
发明(设计)人: | 周炳仁 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 俞波;毋二省 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 提供了一种半导体存储器件及其操作方法。所述器件包括存储器单元阵列,其包括有多个布置为多个列的存储器单元;外围电路,配置为当执行编程操作时对多个存储器单元中的所选择的存储器单元进行编程;以及控制逻辑,配置为在编程操作期间控制外围电路。所述控制逻辑控制外围电路使得在编程操作期间故障位屏蔽操作以及最高有效位(MSB)数据编程操作被同时执行。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 器件 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
一种半导体存储器件,包括:存储器单元阵列,包括多个存储器单元;外围电路,配置为当执行编程操作时对自所述存储器单元中选择的存储器单元进行编程;以及控制逻辑,配置为在编程操作期间控制外围电路,其中,所述控制逻辑控制所述外围电路使得在编程操作期间故障位屏蔽操作以及最高有效位MSB数据编程操作被同时执行。
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