[发明专利]颗粒探测有效

专利信息
申请号: 201510280542.3 申请日: 2008-11-14
公开(公告)号: CN105185026B 公开(公告)日: 2018-09-11
发明(设计)人: 罗恩·诺克司;凯末尔·阿贾伊;K·库珀 申请(专利权)人: 爱克斯崔里斯科技有限公司
主分类号: G08B17/107 分类号: G08B17/107;G01N21/53
代理公司: 北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012 代理人: 梁栋
地址: 巴哈马群*** 国省代码: 巴哈马;BS
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摘要: 颗粒探测系统(100),如动态视频烟雾探测系统,包括:至少一个照明装置(102),用于使辐射线(106)穿过至少部分受监测的空气体积(110);图像传感器(104),用以捕捉至少部分来自照明装置(102)的辐射线(106)的图像;和分析捕捉到的图像的装置(107),用来探测在所述体积内颗粒的存在。本发明描述了至少29个不同的、用于改进颗粒探测的敏感度、可用性和健壮性的方面。这些方面包括例如构造照明装置(102)以形成穿过所述空气体积(110)的光帘或快速扫射的光束,以及构造反射器以控制或改变从照明装置(102)反射的光束。
搜索关键词: 颗粒 探测
【主权项】:
1.一种确定在AVSD系统中光束的对准状态的方法,所述AVSD系统包括照明装置,所述照明装置用于发射光束穿过待监测的空气体积的至少一部分;图像传感器,所述图像传感器被放置为捕捉已经穿过所述待监测的空气体积的至少部分光束的图像;以及分析捕获的图像的装置,用来探测所述体积内颗粒的存在,所述方法包括:发出光束并发射所述光束穿过所述受监测的体积照射到反射目标上;将光束扫过预定的、所述反射目标可能存在的区域;在光传感器处接收被所述反射目标反射的至少部分所述光束,所述反射目标包括光学特性,所述光学特性包括用于形成由所述反射目标反射的光的可探测花样的装置,所述可探测花样是由所述反射目标的至少一部分的反射、折射和/或衍射特性所导致的;和分析由于扫过所述光束而接收到的光,以识别所述反射目标上的反射的光花样特征;至少基于探测到的光花样确定所述光束的对准状态。
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