[发明专利]一种检测角膜激光切削阈值的设备及方法有效

专利信息
申请号: 201510262820.2 申请日: 2015-05-21
公开(公告)号: CN104873325B 公开(公告)日: 2017-06-09
发明(设计)人: 孙辉;樊仲维 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: A61F9/01 分类号: A61F9/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及激光眼科手术技术领域,具体公开一种检测角膜激光切削阈值的设备,包括激光系统和激光诱导等离子体光谱系统;光路系统包括扫描模块、激光光强调节模块、扩束模块、分光模块、滤光模块以及聚焦模块。本发明还公开一种检测角膜激光切削阈值的方法。本发明检测角膜激光切削阈值的设备及方法,能够准确确定角膜的激光切削阈值,并应用于实际临床中。
搜索关键词: 一种 检测 角膜 激光 切削 阈值 设备 方法
【主权项】:
一种检测角膜激光切削阈值的设备,其特征在于,包括:激光系统和激光诱导等离子体光谱系统;所述激光系统与所述激光诱导等离子体光谱系统通过光路系统实现结合;所述光路系统包括扫描模块、激光光强调节模块、扩束模块、分光模块、滤光模块以及聚焦模块;所述扫描模块用于对所述激光系统所发射的激光进行扫描反射;所述激光光强调节模块用于调节所述激光系统所发射激光的光强;所述扩束模块用于对所述激光系统所发射的激光进行扩束;所述分光模块用于反射所述激光系统所发射的激光,并投射等离子体光;所述滤光模块用于对所述等离子体光进行降噪;所述聚焦模块用于将激光聚焦到角膜上,使角膜表面形成等离子体,并生成激光诱导光谱,产生荧光;对所述荧光进行定量及定性分析,区分光学部件的激光切削阈值和角膜的激光切削阈值,获得角膜激光切削阈值。
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