[发明专利]半导体存储器设备及其操作方法有效
| 申请号： | 201510256059.1 | 申请日： | 2015-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN106205696B | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | 周炳仁 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/10 | 分类号： | G11C16/10 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 俞波;周晓雨 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种半导体存储器设备包括：包含有多个存储器单元的存储器单元阵列，对存储器单元阵列执行编程脉冲施加操作和验证操作的外围电路，对包括编程脉冲施加操作和验证操作的编程操作执行通过/失败检查操作的通过/失败检查电路，以及在编程脉冲施加操作期间控制外围电路和通过/失败检查电路以执行通过/失败检查操作的控制逻辑。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储器 设备 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
一种半导体存储器设备，包括：存储器单元阵列，其包含有多个存储器单元；外围电路，其适于对所述存储器单元阵列执行编程脉冲施加操作和验证操作；通过/失败检查电路，其适于对包括所述编程脉冲施加操作和所述验证操作的编程操作执行通过/失败检查操作；以及控制逻辑，其适于在所述编程脉冲施加操作期间控制所述外围电路和所述通过/失败检查电路以执行通过/失败检查操作。
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