[发明专利]存储器测试系统及其测试方法有效
| 申请号： | 201510254212.7 | 申请日： | 2015-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN106297889B | 公开（公告）日： | 2019-08-27 |
| 发明（设计）人： | 张昆辉 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02;G11C29/48 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马雯雯;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器测试系统及其测试方法。其中，存储器测试系统包括存储器测试器以及存储器单元。存储器测试器在测试期间产生数据选通信号。存储器单元在测试期间检测数据选通信号的致能而输出具备所储存的测试数据的测试数据信号至存储器测试器。存储器测试器依据测试数据判断存储器单元是否损坏。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储器测试系统，其特征在于，包括：存储器测试器，在测试操作的测试期间产生数据选通信号；以及存储器单元，耦接所述存储器测试器，在所述测试期间检测所述数据选通信号的致能而输出具备所储存的测试数据的测试数据信号至所述存储器测试器，所述存储器测试器依据所述测试数据判断所述存储器单元是否损坏，其中，所述存储器单元在所述测试期间具有第一信号处理路径，所述存储器单元在普通读取操作的读取期间具有第二信号处理路径，所述第一信号处理路径的信号传输距离小于所述第二信号处理路径的信号传输距离。
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