[发明专利]基于机器视觉的数显电测量仪表质量群检系统有效
申请号: | 201510242542.4 | 申请日: | 2015-05-13 |
公开(公告)号: | CN104931907B | 公开(公告)日: | 2017-12-26 |
发明(设计)人: | 朱美强;李明;王洪栋;叶景东;贾文其;朱文祥;孔旭 | 申请(专利权)人: | 中国矿业大学 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 221116 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于机器视觉的数显电测量仪表质量群检系统,其包括工业计算机,所述工业计算机与条码扫描仪、工业相机以及程控标准源连接,工业相机与待测数显电测量仪表一一对应,程控标准源通过分配继电器与若干待测数显电测量仪表连接,所有的待测数显电测量仪表通过分配继电器的触点与仪表供电电源连接,分配继电器还与工业计算机连接,工业计算机能控制分配继电器内相应触点的开关状态,以控制待测数显电测量仪表与程控标准源以及仪表供电电源的连接状态;本发明智能化程度高,适宜于中小型仪表生产企业的低附加值数显产品,特别是无通信接口数显电测量仪表的出厂检测,检测效率高,适应范围广,安全可靠。 | ||
搜索关键词: | 基于 机器 视觉 数显电 测量 仪表 质量 系统 | ||
【主权项】:
一种基于机器视觉的数显电测量仪表质量群检系统,其特征是:包括工业计算机(1),所述工业计算机(1)与用于扫描待测数显电测量仪表(8)上条码信息的条码扫描仪(2)、用于获取待测数显电测量仪表(8)图像信息的工业相机(6)以及用于向待测数显电测量仪表(8)加载测试信号的程控标准源(4)连接,工业相机(6)与待测数显电测量仪表(8)一一对应,程控标准源(4)通过分配继电器(5)与若干待测数显电测量仪表(8)连接,所有的待测数显电测量仪表(8)通过分配继电器(5)的触点与仪表供电电源(9)连接,分配继电器(5)还与工业计算机(1)连接,工业计算机(1)能控制分配继电器(5)内相应触点的开关状态,以控制待测数显电测量仪表(8)与程控标准源(4)以及仪表供电电源(9)的连接状态;条码扫描仪(2)扫描待测数显电测量仪表(8)的条码信息并将扫描的条码信息传输至工业计算机(1)内,在收到待测数显电测量仪表(8)的条码信息后,工业计算机(1)通过与进行条码扫描的待测数显电测量仪表(8)对应的工业相机(6)获取待测数显电测量仪表(8)未供电的外观图像以及供电后的上电全显图像,且工业计算机(1)根据条码信息提取预先存储在工业计算机(1)内并与所述条码信息匹配的标准数显电测量仪表外观图像模板以及标准数显电测量仪表上电全显图像模板,工业计算机(1)采用模板匹配法将待测数显电测量仪表(8)的外观图像、上电全显图像分别与标准数显电测量仪表外观图像模板、标准数显电测量仪表上电全显图像模板进行比较匹配,以确定并输出所述待测数显电测量仪表(8)的外观质量以及显示质量;工业计算机(1)能控制分配继电器(5)以及程控标准源(4)向进行条码扫描后的待测数显电测量仪表(8)加载所需的基本误差测试信号,并通过对应的工业相机(6)获取所述待测数显电测量仪表(8)在加载基本误差测试信号后的基本误差测试图像,工业计算机(1)根据获取的基本误差测试图像确定与基本误差测试信号相对应的仪表读数,工业计算机(1)根据确定的仪表读数确定所述待测数显电测量仪表(8)在基本误差测试时的基本误差,并根据所述基本误差判定所述待测数显电测量仪表(8)的精度;所述待测数显电测量仪表(8)包括电流表、电压表、功率表、无功功率表、功率因数表、频率表,所述待测数显电测量仪表(8)的显示形式包括液晶显示或数码管显示;工业计算机(1)利用卷积神经网络识别基本误差测试图像对应的仪表读数,并计算所述基本误差测试信号下仪表读数的引用误差,所述引用误差为:rn=|xn-xc|xmax-xmin×100%]]>其中,xn为标准数显电测量仪表的标准示数值,xc为待测数显电测量仪表(8)在基本误差测试信号下的仪表读数,xmax‑xmin为待测数显电测量仪表(8)的仪表量程;在对待测量数显电测量仪表(8)加载完基本误差测试信号,工业计算机(1)取引用误差的最大值为基本误差R;若基本误差R大于规定值,则所述待测数显电测量仪表(8)的精度不合格,否则,所述待测量数显电测量仪表(8)的精度合格。
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