[发明专利]电子封装件及其制法在审

专利信息
申请号: 201510237020.5 申请日: 2015-05-12
公开(公告)号: CN106206476A 公开(公告)日: 2016-12-07
发明(设计)人: 黄晓君;陈贤文;陈仕卿;马光华 申请(专利权)人: 矽品精密工业股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/528;H01L21/768;H01L21/50
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种电子封装件及其制法,该电子封装件包括:具有相对的第一侧与第二侧的线路结构、设于该第一侧上的电子元件、设于该第一侧上以包覆该电子元件的封装胶体、形成于部分该第二侧上的介电层、以及设于该介电层与该线路结构上的金属结构,其中,该金属结构包含第一金属层与第二金属层,该金属结构藉其第一金属层结合至该线路结构上,且该第二金属层形成于该第一金属层与该介电层上,以藉由该线路结构取代现有硅板体,故无需制作现有导电硅穿孔,因而大幅降低制程难度及制作成本。
搜索关键词: 电子 封装 及其 制法
【主权项】:
一种电子封装件,其特征为,该电子封装件包括:线路结构,其具有相对的第一侧与第二侧;至少一电子元件,其设于该线路结构的第一侧上;封装胶体,其设于该线路结构的第一侧上,以包覆该电子元件;介电层,其形成于该线路结构的第二侧上,且该介电层外露部分该线路结构的第二侧;以及金属结构,其设于该介电层与该线路结构外露的部分第二侧上,并包含第一金属层与第二金属层,其中,该金属结构藉其第一金属层结合至该线路结构上,且该第二金属层形成于该第一金属层与该介电层上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于矽品精密工业股份有限公司,未经矽品精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510237020.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top