[发明专利]光学传感器的测试方法有效

专利信息
申请号: 201510216560.5 申请日: 2015-04-30
公开(公告)号: CN105035926B 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 彼得·柯林斯;约翰·寇松 申请(专利权)人: 英盛达(广州)光电科技有限公司
主分类号: B66B13/26 分类号: B66B13/26
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司44102 代理人: 陈卫,郑永泉
地址: 510530 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 公开了一种光学门传感器100的测试方法,该光学门传感器100具有用于发射光信号104的发射器102和用于检测光信号104的接收器106,该光学门传感器100具有至少一个传感器操作参数并且还具有基线状态,在该基线状态下,接收器102可以检测到来自发射器106的光信号。该方法包括设置光学门传感器处于偏移状态204,304,在该偏移状态下,传感器操作参数偏移基线设置一偏移量,基线设置对应于光学门传感器的基线状态;使用处于偏移状态的光学门传感器进行信号测试206;以及,当用于偏移状态的信号测试结果为负并且偏移量小于或等于极限裕度时,产生警报216。信号测试包括发射器发射光信号208并且确定光信号是否被接收器210检测到。如果光信号被接收器检测到,则信号测试结果为正,如果光信号没有被接收器检测到,则信号测试结果为负。
搜索关键词: 光学 传感器 测试 方法
【主权项】:
一种具有用于发射光信号的发射器和用于检测光信号的接收器的光学门传感器的测试方法,该光学门传感器具有至少一个传感器操作参数并且还具有基线状态,在该基线状态下,接收器能够检测到来自发射器的光信号,该方法包括:依次设置光学门传感器处于多个不同的偏移状态,在该多个不同的偏移状态下,传感器操作参数偏移基线设置一偏移量,该基线设置对应于光学门传感器的基线状态,且多个偏移状态包括传感器操作参数偏移第一偏移量的至少一个偏移状态、和相同传感器操作参数偏移不同的第二偏移量的至少一个偏移状态;使用处于偏移状态的光学门传感器对所述多个偏移状态中的每一个进行信号测试,该信号测试包括:发射器发射光信号;和确定光信号是否被接收器检测到;如果光信号被接收器检测到,则信号测试结果为正,如果光信号没有被接收器检测到,则信号测试结果为负;和当用于偏移状态的测试结果为负并且偏移量小于或等于极限裕度时,产生警报。
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