[发明专利]一种衣物自碰撞检测低层裁剪优化方法在审
| 申请号： | 201510204509.2 | 申请日： | 2015-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN104778332A | 公开（公告）日： | 2015-07-15 |
| 发明（设计）人： | 何兵;吕越;井密 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 杨学明;贾玉忠 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种衣物自碰撞检测低层裁剪优化方法，在衣物动态仿真的自碰撞检测过程中，通过基元对层面的低层裁剪，裁剪掉冗余和不可能发生碰撞的基元对，得到所有可能发生碰撞的候选基元对。其步骤是(1)进行基于特征分配的低层裁剪优化。通过特征分配裁剪掉冗余的基元对，在对候选三角形对分配基元对时，进行基元包围盒相交测试，裁剪掉包围盒不相交的基元对；(2)进行基于不共面过滤器的低层裁剪优化，通过不共面测试，过滤掉时间步长内不发生共面的基元对，进一步较少候选基元对的数量，提高自碰撞检测的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 衣物 碰撞 检测 低层 裁剪 优化 方法 | ||
【主权项】：
一种衣物自碰撞检测低层裁剪优化方法，其特征在于通过以下步骤实现：(1)进行基于特征分配的低层裁剪优化，通过特征分配裁剪掉冗余的基元对，在对候选三角形对分配基元对时，进行基元包围盒相交测试，裁剪掉包围盒不相交的基元对；(2)进行基于不共面过滤器的低层裁剪优化，通过不共面测试，过滤掉时间步长内不发生共面的基元对，进一步较少候选基元对的数量，提高自碰撞检测的效率。
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