[发明专利]浅沟槽隔离结构有效
| 申请号: | 201510187312.2 | 申请日: | 2010-07-08 |
| 公开(公告)号: | CN105047660B | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
| 发明(设计)人: | 黄玉莲;钟汉邠;王祥保 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L21/762 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
| 地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 本发明提供一种浅沟槽隔离结构。在本发明实施例中,浅沟槽隔离结构包含半导体基板、沟槽、第一突出绝缘材料及第二突出绝缘材料。沟槽具有第一侧壁以及相对于第一侧壁的第二侧壁,第一侧壁与第二侧壁向下延伸至沟槽的底部。第一突出绝缘材料沉积于第一侧壁上。第二突出绝缘材料沉积于第二侧壁上。第一突出绝缘材料与第二突出绝缘材料邻接,并形成邻近沟槽底部的孔洞,孔洞形成于低于沟槽深度的三分之一的位置,或孔洞形成于低于沟槽深度的四分之一的位置。本发明实施例的浅沟槽隔离结构特别适用于具有大高宽比的沟槽、间隙等的基板中。形成在邻近沟槽底部的多个孔洞具有良好绝缘效果,这是基于孔洞所包含的空气的介电常数仅为1。 | ||
| 搜索关键词: | 突出绝缘材料 浅沟槽隔离结构 第一侧壁 孔洞 第二侧壁 孔洞形成 沉积 邻近 半导体基板 介电常数 绝缘效果 向下延伸 高宽比 邻接 基板 | ||
【主权项】:
1.一种浅沟槽隔离结构,其特征在于,包含:一半导体基板;一沟槽,该沟槽具有一第一侧壁以及一相对于该第一侧壁的第二侧壁,该第一侧壁与该第二侧壁向下延伸至该沟槽的底部;一第一突出绝缘材料,该第一突出绝缘材料沉积于该第一侧壁上;以及一第二突出绝缘材料,该第二突出绝缘材料沉积于该第二侧壁上;其中该第一突出绝缘材料与该第二突出绝缘材料邻接,并形成一邻近该沟槽底部的孔洞,该孔洞形成于一低于该沟槽深度的三分之一的位置,或该孔洞形成于一低于该沟槽深度的四分之一的位置,该沟槽的高宽比为5比1、6比1、7比1、8比1、9比1、10比1、11比1或12比1。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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