[发明专利]用于裸芯片的测试接口板和用于裸芯片的测试系统有效
申请号: | 201510181821.4 | 申请日: | 2015-04-16 |
公开(公告)号: | CN106153986B | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 崔嘉;徐昊 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/26 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 韩建伟;张永明 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于裸芯片的测试接口板和用于裸芯片的测试系统。其中,该接口板包括:多条打线,设置在接口板上,每条打线均具有焊盘端和信号端,其中,焊盘端用于向裸芯片相应的管脚输入测试信号,信号端用于接收输入的外部测试信号,裸芯片固定在接口板上。通过本发明,解决了相关技术中在实验室执行裸芯片的EFA测试时,只能提供数量有限的静态测试信号的问题。 | ||
搜索关键词: | 用于 芯片 测试 接口 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于裸芯片的测试接口板,其特征在于,应用于EFA测试,包括:多条打线,设置在接口板上,每条所述打线均具有焊盘端和信号端,其中,所述焊盘端用于向裸芯片相应的管脚输入测试信号,所述信号端用于接收输入的外部测试信号,所述裸芯片固定在所述接口板上;所述多条打线在所述接口板上布线如下:所述多条打线上的焊盘端分布在第一预设区域的周边上;以及所述多条打线上的信号端分布在第二预设区域的周边上,所述第一预设区域和所述第二预设区域均为接口板上的区域,且所述第一预设区域包含在所述第二预设区域内部,所述多条打线中每条打线的焊盘端与所述多条打线的信号端之间间隔预设距离;其中,所述测试信号通过固定在用于所述裸芯片的所述测试接口板上的插座输送至待测裸芯片的相应焊盘处;通过透明胶将所述裸芯片固定到所述用于裸芯片的测试接口板,所述用于裸芯片的测试接口板上设置有多条打线,每条打线都具有两个端头,分别为:焊盘端和所述信号端,其中,各焊盘端与所述裸芯片的各焊盘相连接,以及测试信号通过各相应的信号端输入值裸芯片的各焊盘。
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