[发明专利]一种推扫式完全偏振高光谱一体化成像装置在审

专利信息
申请号: 201510171170.0 申请日: 2015-04-10
公开(公告)号: CN104792416A 公开(公告)日: 2015-07-22
发明(设计)人: 吕群波;刘扬阳;李伟艳;裴琳琳;王建威 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J4/00
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;郑哲
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种推扫式完全偏振高光谱一体化成像装置,该装置包括:依次设置于同一光路上的前置镜系统、线性偏振片、狭缝阵列、分光器件、成像镜与探测器;其中,入射光射入前置镜系统的一次像面上,通过的平行光经过线性偏振片获得在不同像面区域的光强偏振信息,再进一步经过狭缝阵列,不同狭缝所通过的平行光传输到分光器件上,最终射入成像镜从而实现探测器的成像。本发明提供的装置,其加工装调简单、稳定性高、能量利用率高、成像质量好、分辨率高、结构紧凑、体积小,生产成本低。
搜索关键词: 一种 推扫式 完全 偏振 光谱 一体化 成像 装置
【主权项】:
一种推扫式完全偏振高光谱一体化成像装置,其特征在于,该装置包括:依次设置于同一光路上的前置镜系统、线性偏振片、狭缝阵列、分光器件、成像镜与探测器;其中,入射光射入前置镜系统的一次像面上,通过的平行光经过线性偏振片获得在不同像面区域的光强偏振信息,再进一步经过狭缝阵列,不同狭缝所通过的平行光传输到分光器件上,最终射入成像镜从而实现探测器的成像。
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