[发明专利]光波测距仪有效

专利信息
申请号: 201510161714.5 申请日: 2008-02-02
公开(公告)号: CN104819699B 公开(公告)日: 2017-06-16
发明(设计)人: 长田太 申请(专利权)人: 株式会社扫佳
主分类号: G01C3/00 分类号: G01C3/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 杨谦,胡建新
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供一种光波测距仪,不论是使用了低反射率目标时、还是使用了高反射率目标时,使经过内部光路向光敏元件入射的参照光的输入水平成为同等程度。在具备将从光源发出的测距光切换为至目标物之间进行往复的外部光路(Po)或从光源到光敏元件的内部光路(Pi)的光闸(50)的光波测距仪中,光闸具备旋转轴(55);遮挡板(56),配置在相对于旋转轴对称的两处位置,交替地遮断向外部光路和内部光路入射的各测距光(L);衰减板(57),在未配置遮挡板的两处中的一处,配置在2个遮挡板之间,在低反射率的目标物时,使向内部光路入射的测距光衰减。
搜索关键词: 光波 测距仪
【主权项】:
一种光波测距仪,其特征在于,包括:光源,向置于测量点上的目标物射出测距光;光敏元件,接收在所述目标物反射而返回的测距光;分割单元,将所述光源发出的测距光分割成至所述目标物之间进行往复的外部光路和从所述光源到所述光敏元件的内部光路;以及光闸,切换所述外部光路和所述内部光路;其中,所述光闸具备:旋转轴;遮挡板,配置在相对于该旋转轴对称的两处位置,交替地遮断向所述外部光路和所述内部光路入射的各测距光;以及衰减板,在没配置该遮挡板的两处中的一处,配置在2个所述遮挡板之间,在使用低反射率的目标物时,使向内部光路入射的测距光衰减;将所述遮挡板的顶点固定在所述旋转轴上,将所述衰减板的两侧粘接固定在该遮挡板上,所述遮挡板和所述衰减板配置成中心角为90°的扇形,所述遮挡板之间的空缺部分分别形成为中心角为90°的扇形;在所述衰减板的周边设置有光闸位置检测部;所述分割单元将所述外部光路引导到所述光闸的第三象限,将所述内部光路引导到所述光闸的第二象限,将所述衰减板来到所述光闸的第一象限的位置设为初始位置,在所述目标物是低反射目标的情况下,在所述初始位置使所述外部光路入射,在从所述初始位置向逆时针方向旋转90°的位置,使所述内部光路入射,在所述目标物是高反射目标的情况下,与是所述低反射目标的情况相比较,使所述光源降低输出,在所述初始位置使所述外部光路入射,在从所述初始位置向顺时针方向旋转90°的位置,使所述内部光路入射。
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