[发明专利]一种电光强度调制器啁啾参数的测量方法

摘要

本发明公开了一种电光强度调制器啁啾参数的测量方法，属于光电子技术领域。本发明方法将一束光载波经过分束器一分为二，其中一束通过待测电光强度调制器被一正弦微波信号调制，另一束进行移频，两束光信号经合束器合束后送入光电探测器进行光电转换，获得拍频信号；通过调节待测电光强度调制器的偏置电压，使得拍频信号中特定频率成份的幅度达到最大值和最小值，利用该特定频率成份的最大幅度值和最小幅度值计算获得电光强度调制器啁啾参数；改变正弦微波信号的频率，重复上述过程，得到电光强度调制器啁啾参数随调制频率的变化曲线。相比现有技术，本发明大幅度提高测量分辨率和频率范围，适用于任意有限分光比的电光强度调制器。

主权项

一种电光强度调制器啁啾参数的测量方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1、激光器发出的光载波经过分束器分为两束，步骤2、其中一束光载波经由待测电光强度调制器被一正弦信号调制形成强度调制光信号，另一束光载波经过移频器后形成移频光信号，步骤3、两束光信号通过合束器合束后送入光电探测器光电转换，获得拍频信号；步骤4、调节待测电光强度调制器的偏置电压，使得拍频信号中特定频率成份的幅值达到最大值和最小值记录下来，步骤5、利用记录的特定频率成份的幅值的最大值和最小值计算获得待测电光强度调制器的啁啾参数；步骤6、改变所述正弦信号的频率并重复步骤1‑5的过程，得到待测电光强度调制器啁啾参数随调制频率的变化关系；步骤5中求解待测电光强度调制器在调制频率为fm的啁啾参数的求解公式为：a0(fm)=i0(fs)×i0(fm±fs)+iπ(fs)×iπ(fm±fs)i0(fs)×iπ(fm±fs)-iπ(fs)×i0(fm±fs)]]>待测电光强度调制器啁啾参数的符号表征值为s(fm)，当s(fm)大于1或小于‑1时，啁啾参数a0(fm)为正号，当s(fm)在‑1和1之间，啁啾参数a0(fm)为负号，当s(fm)等于1或‑1时，啁啾参数为0；s(fm)的计算公式为：s(fm)=i0(fm±fs)+iπ(fm±fs)i0(fm±fs)-iπ(fm±fs)·i0(fs)+iπ(fs)i0(fs)-iπ(fs);]]>步骤2中加载到待测电光强度调制器的正弦信号频率为fm，移频器的移频量为fs；步骤4具体包括以下：逐步调节待测电光强度调制器的偏置电压，观察光电探测器输出的拍频信号中fs和fm±fs频率的幅度值i(fs)和i(fm±fs)，记录i(fs)的最大幅度值和i(fm±fs)的最小幅度值，分别记为i0(fs)、i0(fm±fs)；再逐步调节待测电光强度调制器的偏置电压，观察光电探测器输出的拍频信号中fs和fm±fs频率的幅度值i(fs)和i(fm±fs)，记录i(fs)的最小幅度值和i(fm±fs)的最大幅度值，分别记为iπ(fs)、iπ(fm±fs)。