[发明专利]一种X射线荧光粉末压片法分析硼镁铁矿的方法在审
| 申请号： | 201510141264.3 | 申请日： | 2015-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN106153654A | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | 赵竞泽;王晓旭;邱蒙;张勋;桑妍;张丽丽;陈英丽;韩丽丽;雷学斌;张辉 | 申请（专利权）人： | 鞍钢股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 鞍山嘉讯科技专利事务所 21224 | 代理人： | 张群 |
| 地址： | 114000 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种X射线荧光粉末压片法分析硼镁铁矿的方法，包括以下步骤：1)用已知各元素含量的硼镁铁矿建立标准曲线：采用X射线荧光光谱仪测定样片元素发射强度，利用对一系列内控标样测量得到各元素的发射强度，结合各元素在试样中的质量百分含量，运用最小二乘法回归出一条与样品元素含量相关联的直线以及其线性方程式；2)对待测硼镁铁矿进行测定：采用X射线荧光光谱仪测定样片元素发射强度，利用已得出的关于元素含量的线性方程式，计算出待测样片中各元素的质量百分含量。本发明采用X射线荧光粉末压片法对硼镁铁矿中所含元素进行分析和检测，准确性高、检验周期短、多元素同时测定、检验成本低、环境污染小。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 荧光 粉末 压片 分析 铁矿 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线荧光粉末压片法分析硼镁铁矿的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)用已知各元素含量的硼镁铁矿建立标准曲线：采用X射线荧光光谱仪测定样片各元素的发射强度，利用对一系列内控标样测量得到各元素的发射强度，结合各元素在试样中的质量百分含量，运用最小二乘法回归出一条与样品元素含量相关联的直线以及其线性方程式；2)对待测硼镁铁矿进行测定：采用X射线荧光光谱仪测定样片元素发射强度，利用已得出的关于元素含量的线性方程式，计算出待测样片中各元素的质量百分含量。
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