[发明专利]对于通过挤出技术制造出的工业制品的测量

摘要

本发明涉及一种设备，其用于监控在内嵌挤出过程中移动的挤出制品以便通过持续地测量尺寸参数并且确定挤出中的缺陷来实现所述过程的质量控制。所述装置使用太赫兹辐射，所述太赫兹辐射适于提供辐射的平行射线的帷幕，所述帷幕在制品以直线方式经过时跨过制品被扫描。在扫描过程之后被接收的被发射的辐射的成分受到图像分析以确定移动的制品的尺寸参数。图像分析涉及将修正值应用到被测量的穿越制品的射线的取决于所述制品在射线的帷幕内的位置的传输时间，从而在最终测量结果中将不准确性去除。

主权项

1.用于通过非接触来测量在自由空间中被持续地挤出的细长的、非导引式的工业制品的尺寸特性的设备，所述设备包括：太赫兹辐射的源；扫描器系统，其用于利用所述辐射的平行射线的帷幕来从制品的一侧跨过制品扫描制品；传感器，其用于检测被发射出的辐射在经过所述制品的挤出之后在所述制品的另一侧上的成分；以及图像分析器单元，其可操作地与传感器相关联以便执行所述被发射出的辐射的与时间有关的成像分析从而确定所述尺寸特性，其特征在于，所述分析器结合有处理器，用于计算体现穿越制品的射线之间的传输时间中的变动的修正数据，所述处理器适于向所述分析器提供用于每个射线的与时间有关的修正信号以使穿越制品的射线的传输时间相等，从而改进被测量的制品的尺寸特性的准确性。