[发明专利]一种可控硅封装方法及封装模具有效
| 申请号: | 201510122648.0 | 申请日: | 2015-03-19 |
| 公开(公告)号: | CN104752237B | 公开(公告)日: | 2017-07-11 |
| 发明(设计)人: | 赵巍巍;高军;李长利;王敏花;张金宇;孙凤军 | 申请(专利权)人: | 鞍山市联达电子有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/52 | 分类号: | H01L21/52 |
| 代理公司: | 鞍山嘉讯科技专利事务所21224 | 代理人: | 张群 |
| 地址: | 114000 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明涉及一种可控硅封装方法,采用模具封装,在下模中设弹簧一保证封装时可控硅管壳台面与芯片紧密接触,在上模与下模之间设限位套保证封装刃间隙;封装模具包括上模、下模和可控硅定位盘,所述下模设有放置可控硅用的空腔,空腔底部设弹簧一和可控硅定位盘,可控硅定位盘在弹簧一的作用下可沿下模相配合的孔壁移动,上模和下模的对应工作表面设有相配合的封装刃。与现有技术相比,本发明的有益效果是1)保证管壳与芯片之间的紧密接触;2)封装后可直接测试出阴控极阻值,及时发现阴控极接触不良问题;3)采用限位套精确控制封装刃间隙,确保封装质量;4)封装后在弹簧一作用下可控硅自动弹出,操作方便,提高工效。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 可控硅 封装 方法 模具 | ||
【主权项】:
一种可控硅封装方法,其特征在于,采用模具封装,在下模中设弹簧一保证封装时可控硅管壳台面与芯片紧密接触,在上模与下模之间设限位套保证封装刃间隙;具体过程如下:1)清理模具内部灰尘或异物,将限位套固定在下模上;2)将可控硅上下管壳的外沿对齐后,放置在下模空腔中的定位盘上;3)启动油压机,设定压力值,按下行键,上模向下模方向移动,导向针与可控硅中心孔自动对正,导向针在上模下移过程中压缩弹簧二并逐渐回缩;4)上模继续下移并合模,在限位套作用下上、下模封装刃间隙在0.08~0.18mm之间完成对外沿的压封,压封时,在弹簧一和可控硅定位盘作用下,可控硅管壳台面与芯片始终保持紧密接触;5)油压机带动上模回升到原位,可控硅定位盘在弹簧一的作用下将可控硅顶出,整个封装过程结束。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于鞍山市联达电子有限公司,未经鞍山市联达电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510122648.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:测试结构的形成方法
- 下一篇:鳍式场效应晶体管的形成方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





