[发明专利]一种基于光计算的光谱光学相干成像系统

摘要

本发明涉及一种基于光计算的光谱光学相干成像系统，其特征在于包括光计算系统和图像显示系统，所述光计算系统包括宽带光源、信号发生装置、光强度调制器、色散器件、第一耦合器、第一环形器、第二环形器、第一聚焦透镜、第二聚焦透镜、反射镜、扫描振镜和第二耦合器；所述图像显示系统包括平衡探测器、包络检波器、数据采集卡和计算机，实现了光频域信号的实时傅里叶变换。由于实时傅里叶变换能够及时地处理光谱光学相干成像系统的图像数据，所以本发明的成像速度极快，可以广泛应用于光谱光学相干成像中。

主权项

一种基于光计算的光谱光学相干成像系统，其特征在于：包括一光计算系统和一图像显示系统，所述光计算系统包括宽带光源、信号发生装置、光强度调制器、色散器件、第一耦合器、第一环形器、第二环形器、第一聚焦透镜、第二聚焦透镜、反射镜、二维扫描系统和第二耦合器；所述图像显示系统包括平衡探测器、包络检波器、数据采集卡和计算机，其中，所述第二耦合器的耦合比例参数为50/50；所述宽带光源发出的直流宽带光经被所述信号发生装置驱动的所述光强度调制器调制，在时域上被调制为cos(at2)+1波形，a为常数，并将调制后的光发送到所述色散器件，经所述色散器件出射的光进入所述第一耦合器根据设定参数进行分光，经所述第一耦合器出射的小部分光进入所述第一环形器成为参考光，其余大部分光进入所述第二环形器成为样品光；参考光经所述第一聚焦透镜会聚后发射到所述反射镜后沿着原光路返回进入所述第一环形器；所述二维扫描系统用于进行X和Y方向的扫描，样品光经所述二维扫描系统发射到待测样品的不同位置，待测样品不同位置的不同深度反射的光沿着原光路返回进入所述第二环形器；所述第一环形器出射的经反射镜反射的参考光和所述第二环形器出射的经待测样品反射的样品光均发射到所述第二耦合器进行耦合，经所述第二耦合器出射的同比例的光经所述平衡探测器接收，所述平衡探测器将光信号进行处理并将得到的电信号发送到所述包络监测器得到包络信号，包络信号经所述数据采集卡输入到所述计算机进行显示，获得待测样品的结构信息。