[发明专利]基于SOPC的SDRAM测试系统及方法在审
| 申请号： | 201510105536.4 | 申请日： | 2015-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN104658607A | 公开（公告）日： | 2015-05-27 |
| 发明（设计）人： | 魏爱香;林康保;招瑜;刘俊 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 广州市南锋专利事务所有限公司 44228 | 代理人： | 刘媖 |
| 地址： | 510090 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于SOPC的SDRAM测试系统及方法。测试系统包括测试芯片和被测试的SDRAM芯片，测试芯片包括PPL移相模块和逻辑控制模块，逻辑控制模块包括SDRAM通信端口和用于连接Avalon主外设的Avalon从端口，Avalon从端口包括时钟信号输入端口、地址端口、控制端口、数据端口和读写等待端口，PPL移相模块的第一时钟输出端连接至SDRAM芯片的时钟信号引脚，PPL移相模块的第二时钟输出端连接至Avalon从端口的时钟信号输入端口。测试方法包括步骤：A、初始化测试芯片和被测试的SDRAM芯片；B、检测数据线，若出现错误则打印出错误信息；C、检测地址线，若出现错误则打印出错误信息；D、检测存储单元，若出现错误则打印出错误信息。本发明可广泛应用于数据存储领域，测试精确、高效。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 sopc sdram 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种基于SOPC的SDRAM测试系统，其特征在于：包括测试芯片和被测试的SDRAM芯片，所述测试芯片包括PPL移相模块和逻辑控制模块，所述逻辑控制模块包括用于连接SDRAM芯片的SDRAM通信端口和用于连接Avalon主外设的Avalon从端口，所述Avalon从端口包括时钟信号输入端口、地址端口、控制端口、数据端口和读写等待端口，所述PPL移相模块的第一时钟输出端连接至SDRAM芯片的时钟信号引脚，所述PPL移相模块的第二时钟输出端连接至Avalon从端口的时钟信号输入端口。
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