[发明专利]一种SRAM型FPGA的器件级自动化测试平台及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201510096980.4 申请日: 2015-03-05
公开(公告)号: CN104698314B 公开(公告)日: 2018-01-02
发明(设计)人: 王贺;陈罗婧;汪悦;傅丹膺;张大宇;陈志强;匡潜玮;袁春柱;张松 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司37205 代理人: 李江
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种FPGA器件级自动化测试平台和方法,特别是应用于Vertix‑4系列SRAM型FPGA的器件级自动化测试平台及其方法。一种应用于FPGA的器件级自动化测试平台,其特征在于包括服务器、编程器、测试仪主机以及测试接口板;所述测试接口板包括被测FPGA和辅助硬件配置电路;所述服务器和编程器通过USB连接进行数据交换,所述服务器通过本地总线与所述测试仪主机连接进行数据交换,所述编程器通过被测FPGA的JTAG接口配置被测FPGA的程序,所述测试仪主机通过DPS电源模块为被测FPGA提供电源并测量其工作电流,通过数字通道向被测FPGA施加测试激励信号并采样测试结果。
搜索关键词: 一种 sram fpga 器件 自动化 测试 平台 及其 方法
【主权项】:
一种SRAM型FPGA的器件级自动化测试平台,其特征在于包括:服务器、编程器、测试仪主机以及测试接口板;所述测试接口板包括被测FPGA和辅助硬件配置电路;所述服务器和编程器通过USB连接进行数据交换,所述服务器通过本地总线与所述测试仪主机连接进行数据交换,所述编程器通过被测FPGA的JTAG接口配置被测FPGA的程序,所述测试仪主机通过DPS电源模块为被测FPGA提供电源并测量其工作电流,通过数字通道向被测FPGA施加测试激励信号并采样测试结果;上述SRAM型FPGA的器件级自动化测试平台的测试方法,包括如下步骤:步骤(1),基于Xilinx ISE开发环境,通过Verilog或VHDL设计被测FPGA的配置程序,综合实现后产生*.bit文件;步骤(2),通过ISE集成的工具包转换为一个或多个*.svf格式的文件;步骤(3),通过开发专用Perl软件,将*.svf格式的文件转换为*.vec格式的JTAG配置数据流,包括TMS、TCK、TDI、TDO四组信号;步骤(4),在自动测试设备的IG‑XL开发环境下编写程序,调用Perl程序,将*.vec数据通过USB总线下载到编程器中,由编程器通过JTAG接口完成对FPGA的功能配置;最后调用测试仪的DPS与数字通道资源,完成对FPGA的测试并记录测试结果;步骤(5),完成一项测试后重复执行所述步骤(4)的工作,直到全部测试项执行完毕。
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