[发明专利]一种纳米颗粒计数检测装置及检测方法

摘要

本发明涉及一种基于激光相干原理的纳米颗粒计数检测方法及检测装置，基于该方法的传感器结构包括半导体激光器，入射光纤，样品池，出射光纤、光电探测器和信号处理电路。位于样品池检测通道两侧的入射光纤端面和出射光纤端面相互平行，形成一个干涉腔。半导体激光器发出的相干光通过干涉腔时，会发生多光束干涉。当待测液体或气体介质中的微小颗粒通过干涉腔时，会改变干涉腔的有效光程，从而使得透射光的干涉光强发生变化。利用光电探测器求出透射光强的变化，可以求出通过干涉腔的颗粒大小。

主权项

一种纳米颗粒计数检测装置，其特征在于：所述的检测装置包括样品池、光源、光电探测器、光电检测电路，所述的样品池设置有液体检测通道、与所述的液体检测通道相交叉连通的光纤槽，所述的光纤槽包括位于液体检测通道一侧的入射光纤槽和位于液体检测通道另一侧的出射光纤槽，所述的入射光纤槽内设置有入射光纤，所述的出射光纤槽内设置有出射光纤，所述的入射光纤的远离所述液体检测通道的一端与所述的光源相连接；所述的出射光纤的远离所述液体检测通道的一端与所述的光电探测器相连接，所述光源发出的光线依次经过入射光纤、液体检测通道、出射光纤传输到光电探测器形成检测光路，所述的检测光路与所述的液体检测通道中流过的待测液体相交处形成颗粒检测区域，当光到达入射光纤端面之后一部分光透过端面，然后到达出射光纤端面，到达出射光纤5端面的光有一部分又被反射回入射光纤的端面，经过多次的反射，在入射光纤和出射光纤相邻的两个端面之间形成多光束干涉，光电探测器测得透射光的光强，当待测液体中有颗粒通过颗粒检测区域时，引起光线经过颗粒检测区域的有效光程发生改变，从而导致光电探测器检测到的光强发生变化，根据光强的变化次数确定颗粒检测区域的颗粒的数量；所述的入射光纤靠近液体检测通道的一端的端面与所述的出射光纤靠近液体检测通道的一端的端面镀有多层介质反射膜。