[发明专利]一种原子光谱仪的定量方法有效

专利信息
申请号: 201510095780.7 申请日: 2015-03-04
公开(公告)号: CN104713834B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 段旭川;张静雅 申请(专利权)人: 天津师范大学
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N21/64;G01N27/62;G01N23/223
代理公司: 天津市杰盈专利代理有限公司12207 代理人: 朱红星
地址: 300387 *** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种原子光谱仪的定量方法,其特征是标准加入法与内标法的一体化结合。根据本方法,一次定量检验中,只需测定2或3个数据点即可获得非常准确的分析测定结果。本方法适合在样品基体干扰大、且测定条件不稳定时样品的测定,具有速度快、结果准确等优点。
搜索关键词: 一种 原子 光谱仪 定量 方法
【主权项】:
一种原子光谱仪的定量方法,其特征在于在标准加入法中同时使用了内标法按如下的步骤进行:(1)准确量取等量的待测样品2‑3份,然后向每份样品中添加等量的内标物,再向第2和第3份样品中添加不等量的待分析物的标准物,其添加量分别为C1、C2;将每份样品定容到一定体积并混匀;(2)在仪器上同时测定每份样品中待分析物信号Y0、Y1和Y2和内标物信号Yi 0、Yi 1和Yi2;(3)计算比值:Y0/Yi 0 、Y1/ Yi 1和Y2/ Yi2,以第1份只加内标物不加待分析物标准的样品为分析曲线横坐标的0点,以第2份和第3份添加的待分析物的标准的浓度C1和C2为横坐标,Y0/Yi 0 、Y1/ Yi 1和Y2/ Yi2为纵坐标作校正曲线图;(4)将获得的校正曲线延长交至横轴,则其与横轴的交点横坐标的绝对值就是样品的分析物含量。
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