[发明专利]一种太赫兹波性能的检测装置和方法

摘要

本发明涉及一种太赫兹波性能的检测装置和方法，采用了具有可调谐反射空间太赫兹波效果的本征锗材料平板、抛物面镜、二维扫描振镜和两个一维直流电机，将本征锗材料平板固定在太赫兹准直光束传输的路径中，通过调节二维扫描振镜，使缩束后的光束扫描本征锗材料的不同空间位置，反射需要探测的区域，同时用电光晶体探测太赫兹光束的时域光谱，最后通过后期频谱分析处理，即可实现太赫兹光束不同区域内电场幅度、频率和相位的数据提取。可以解决国际上对源特征探测的科学难题，为后期的科学研究工作奠定基础，在实际应用中可以帮助使用者针对不同的源采用不同的特征选取手段，提高太赫兹波的应用效率。

主权项

一种太赫兹波性能的检测装置，其特征在于，包括两个分束片；三个反射镜；太赫兹源；抛物面镜A；平面金属镜；本征锗；两个凸透镜；凹透镜；二维扫描振镜；抛物面镜B；电光晶体；四分之一玻片；沃拉斯顿棱镜；PD探头；由飞秒激光器输出的初始激光脉冲，通过第一分束片后，反射光作为光束一经过第一反射镜进入太赫兹源，太赫兹源输出产生太赫兹波，经过离轴抛物面镜A后，产生一个准直的太赫兹光束，被平面金属镜反射后透过固定着的本征锗平板；通过第一分束片的透射光经过第二分束片，第二分束片输出的反射光作为光束二经过第二反射镜再次反射后，经过第一凸透镜和凹透镜的缩束后，通过调节二维扫描振镜，改变光出射方向，照射到本征锗平板上的不同位置，形成类似金属的表面，反射太赫兹光，没有被照射到的位置处太赫兹波仍然被透射，透过的太赫兹波平行进入抛物面镜B；通过第一分束片的透射光经过第二分束片，第二分束片输出的透射光作为光束三，经过第三反射镜反射，与抛物面镜B汇聚光合束，再依次通过电光晶体、凸透镜、四分之一玻片、渥拉斯顿棱镜，进入PD探头进行信号的光电转换，后续进行信号记录和处理。