[发明专利]一种间接测量电缆绝缘层介质损耗的方法在审

专利信息
申请号: 201510077149.4 申请日: 2015-02-11
公开(公告)号: CN104678267A 公开(公告)日: 2015-06-03
发明(设计)人: 刘刚;王振华 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 李斌
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种间接测量电缆绝缘层介质损耗的方法,包括以下步骤:S1、将测温热电偶用标准热电偶进行校准,保证测温热电偶的测量精度;S2、对电缆用电钻打孔,将两个测温热电偶分别布置到电缆绝缘层的内、外表面;S3、将测温热电偶连接到测温仪上,实时测量电缆绝缘层的内、外表面温度;S4、将绝缘层内、外表面温度代入推导出的绝缘层介质损耗计算公式,计算得到绝缘层介质损耗。本方法可以进行在线测量,克服了传统方法只能停电测量的缺点。利用此方法可以进行电缆绝缘层介质损耗在线监测系统设计。另外本方法通过测量温度实现,温度测量易于实现,测量成本较低,能克服原有在线测量介质损耗方法成本高,对设备测量精度要求高的问题。
搜索关键词: 一种 间接 测量 电缆 绝缘 介质 损耗 方法
【主权项】:
一种间接测量电缆绝缘层介质损耗的方法,其特征在于,包括下述步骤:S1、将测温热电偶用标准热电偶进行校准,保证测温热电偶的测量精度;S2、将两个测温热电偶分别布置到电缆绝缘层的内、外表面;S3、将测温热电偶连接到测温仪上,以便实时测量电缆绝缘层的内、外表面温度;S4、将绝缘层内、外表面温度代入绝缘层介质损耗计算公式,计算得到绝缘层介质损耗。
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