[发明专利]光源质量检测仪及检测方法有效

专利信息
申请号: 201510061769.9 申请日: 2015-02-05
公开(公告)号: CN105334023B 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 姬军鹏;张小影;杨波;罗磊;燕聪;巨开石;惠鑫 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 西安弘理专利事务所61214 代理人: 李娜
地址: 710048*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种光源质量检测仪和检测方法,其包括微控制器、激光测距模块、光照度测量模块、图像传感模块、湿度测量模块和灰尘度测量模块,集测量光照度、光谱、色温和闪烁频率为一体,全面测量测量光源本身的光参数,并充分考虑了环境对光参数的影响,克服了现有技术中测量对象仅为测量点光环境参数,而无法测量光源质量的问题,同时克服了环境因素对测量结果影响的问题。此外,本发明的光源质量检测仪体积小,测量方法简单,实用性强。
搜索关键词: 光源 质量 检测 方法
【主权项】:
一种光源质量检测仪,其特征在于,其包括外壳(5),在外壳(5)上表面部中间位置安装有光源参数测量探头(1)、光源参数测量探头(1)的左边安装有环境参数测量探头(2),右边安装有激光测距探头(3);其中,环境参数测量探头(2)、激光测距探头(3)均安装在外壳(5)的上表面;外壳(5)的内部设置有数据处理系统,数据处理系统包括微控制器(12),微控制器(12)分别连接有激光测距模块(7)、光照度测量模块(8)、图像传感模块(9)、湿度测量模块(10)、灰尘度测量模块(11);光照度测量模块(8)、图像传感模块(9)与光源参数测量探头(1)连接,湿度测量模块(10)、灰尘度测量模块(11)与环境参数测量探头(2)连接,激光测距模块(7)与激光测距探头(3)连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安理工大学,未经西安理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510061769.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top