[发明专利]一种高分辨率多波长激光强度分布探测器及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201510059831.0 申请日: 2015-02-05
公开(公告)号: CN104596638B 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 庞淼;张卫;袁学文;高学燕;胡晓阳;周文超;周山;何均章 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;G01J1/04
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司51214 代理人: 卿诚,吴彦峰
地址: 621000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种高分辨率多波长激光强度分布探测器,包括取样靶面、反射镜、窄带滤光片、光斑采集装置、网络交换机、数据处理装置。其测量方法为取样靶面对入射激光进行漫透射取样,图像采集装置通过反射镜对取样光斑进行成像,然后通过网络交换机将光斑数据发送到数据处理装置,数据处理装置对光斑进行形状畸变校正和强度畸变校正后,再进行分析、处理,通过计算得出激光强度分布参数。本发明可以同时对多种波长激光强度分布进行高分辨率准确定量测量。
搜索关键词: 一种 高分辨率 波长 激光 强度 分布 探测器 及其 测量方法
【主权项】:
一种高分辨率多波长激光强度分布探测器,其特征在于包括取样靶面、反射镜、窄带滤光片、光斑采集装置、网络交换机、数据处理装置;所述反射镜位于取样靶面后方,且反射镜的反光面前方设置有光斑采集装置;所述反射镜的反射面与取样靶面呈10~80度夹角,且反射镜的反射面与光斑采集装置呈0~60度夹角;所述光斑采集装置采集的数据通过网络交换机传输到数据处理装置。
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