[发明专利]一种星敏感器光学系统弥散斑圆度的定量分析方法有效
| 申请号： | 201510058432.2 | 申请日： | 2015-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN104655045B | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 李巧玲;严俊;吴璀罡;李晓妮 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司61211 | 代理人： | 杨亚婷 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种星敏感器光学镜头星点弥散斑圆度的定量分析方法，包括a)获取星敏感器光学镜头工作面上的弥散斑能量分布图；b)根据弥散斑能量分布图计算弥散斑的总能量；c)计算包含总能量的弥散斑质心点位置；d)在弥散斑能量分布图上做闭合的能量等高线，计算弥散斑的圆度误差等步骤。该方法既符合星敏感器图像处理的思路，又能有效反映星敏感器光学系统像差的分布，可用于星敏感器光学系统设计结果的定量评价及性能指标检测，具有原理简单、思路清晰，操作性强的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 敏感 光学系统 弥散 斑圆度 定量分析 方法 | ||
【主权项】：
一种星敏感器光学镜头星点弥散斑圆度的定量分析方法，其特征在于：包括以下步骤：a)获取星敏感器光学镜头工作面上的弥散斑能量分布图；b)根据弥散斑能量分布图计算弥散斑的总能量；c)计算包含总能量的弥散斑质心点位置；d)在弥散斑能量分布图上做闭合的能量等高线；e)过质心点在等高线上取两个方向的线量X和Y，设X大于Y，按照公式(1)计算弥散斑的圆度误差；圆度误差＝((X‑Y)/Y)×100％……………………(1)。
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