[发明专利]一种基于标准中间过程文件的SCD版本比对方法

摘要

本发明公开了一种基于标准中间过程文件的SCD版本比对方法，基于四层图形的智能变电站虚回路可视化比对方法，该方法从装置、链路、通讯参数和虚回路四个层面，以图形化方式较为高效的自顶向下逐步实现虚回路的比较。最大限度的保证虚回路配置信息的安全性、完整性、一致性，改变依靠人力来保证虚回路配置正确性的低效而脆弱的现状，从而保障和提升智能变电站安全运行水平，缩短系统投运时间、减轻系统投运压力，降低智能变电站全寿命周期内的维护成本。

主权项

一种基于标准中间过程文件的SCD版本比对方法，其特征在于，包括以下步骤，S1，按照IED的序列顺序逐个从第一SCD版本文件中提取第一SCD版本的中间过程文件；S2，一个IED对应一个中间过程文件，获得第一SCD版本的中间过程文件集合；S3，按照IED的序列顺序逐个从第二SCD版本文件中提取第二SCD版本的中间过程文件；S4，获得第二SCD版本的中间过程文件集合；S5，进行CRC比对，包括以下步骤：501)，第一SCD版本的中间过程文件逐个进行CRC计算，获得第一SCD版本的CRC数值列表；502)，第二SCD版本的中间过程文件逐个进行CRC计算，获得第二SCD版本的CRC数值列表；503)，采用CRC比对法定位IED的差异，获取存在差异的IED列表；S6，进行链路层信息比对，具体包括以下步骤：601)，第一SCD版本的中间过程文件逐个进行链路比对，获得第一SCD版本的链路层图形化信息；602)，第二SCD版本的中间过程文件逐个进行链路比对，获得第二SCD版本的链路层图形化信息；603)，根据步骤S5定位的存在差异的IED，选择有CRC差异的IED对应的第一SCD版本和第二SCD版本的中间过程文件；604)，将步骤603选择的有CRC差异的IED对应的第一SCD版本和第二SCD版本的中间过程文件进行链路比对，获得IED的链路比对信息，定位第一SCD版本和第二SCD版本的链路的差异；S7，参数比对：701)，第一SCD版本的中间过程文件逐个进行参数比对，获得第一SCD版本的参数图形化信息；702)，第二SCD版本的中间过程文件逐个进行参数比对，获得第二SCD版本的参数图形化信息；703)，第一SCD版本和第二SCD版本的中间过程文件进行参数比对，获得IED的全部参数比对信息；704)，基于步骤703获取的参数比对信息，定位第一SCD版本和第二SCD版本的参数差异；S8,虚回路比对，具体包括以下步骤：801)，第一SCD版本的中间过程文件逐个进行虚回路比对，获得虚回路图形化信息；802)，第二SCD版本的中间过程文件逐个进行虚回路比对，获得虚回路图形化信息；803)，第一SCD版本和第二SCD版本的中间过程文件进行虚回路比对，获得IED的全部虚回路比对信息；804)，基于步骤803获取的虚回路比对信息对定位虚回路的差异。