[发明专利]一种卫星深层介质充放电的在轨测试装置有效
| 申请号: | 201510044167.2 | 申请日: | 2015-01-28 |
| 公开(公告)号: | CN105988065B | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
| 发明(设计)人: | 杨垂柏;张珅毅;曹光伟;张斌全;荆涛;孔令高;关燚炳;梁金宝 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
| 代理公司: | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人: | 王宇杨;杨青 |
| 地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 一种卫星深层介质充放电的在轨测试装置,包括:机壳、非接地导体试验件、平板介质试验件、带屏蔽同轴试验件、非屏蔽同轴试验件、测试装置屏蔽板、负载电阻及电子学部分,其中所述非接地导体试验件、平板介质试验件、带屏蔽同轴试验件及非屏蔽同轴试验件分别用于模拟卫星的电子系统所包含的非接地导体、印刷电路板及各种导线套,所述非接地导体试验件通过在平板绝缘介质的双面镀金属而形成,且其一面通过负载电阻与机壳相连,并通过导线与电子学部分相连。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 卫星 深层 介质 放电 测试 装置 | ||
【主权项】:
1.一种卫星深层介质充放电的在轨测试装置,包括:机壳、非接地导体试验件、平板介质试验件、带屏蔽同轴试验件、非屏蔽同轴试验件、测试装置屏蔽板、负载电阻及电子学部分,其中所述非接地导体试验件、平板介质试验件、带屏蔽同轴试验件及非屏蔽同轴试验件分别用于模拟卫星的电子系统所包含的非接地导体、印刷电路板及各种导线套,所述非接地导体试验件通过在平板绝缘介质的双面镀金属而形成,且其一面通过负载电阻与机壳相连,并通过导线与电子学部分相连;所述平板介质试验件通过在平板绝缘介质的一面镀金属而形成,该镀金属面通过负载电阻与机壳相连,并通过导线与电子学部分相连;所述带屏蔽同轴试验件是表面带有金属屏蔽的同轴导线构件,其芯线通过负载电阻与机壳相连,并通过导线与电子学部分相连;所述非屏蔽同轴试验件是表面不带金属屏蔽的同轴导线构件,其芯线通过负载电阻与机壳相连,并通过导线与电子学部分相连;所述测试装置屏蔽板安装在机壳上,用于模拟卫星电子系统受到屏蔽,通过调节其厚度可以模拟卫星内不同位置处的卫星深层介质充放电威胁程度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院国家空间科学中心,未经中国科学院国家空间科学中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510044167.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电极组件及具有其的空气净化器
- 下一篇:干选高压辊磨系统





