[发明专利]一种制作碳化硅SBD器件的方法及其正面保护方法有效
申请号: | 201510041144.6 | 申请日: | 2015-01-27 |
公开(公告)号: | CN104576325B | 公开(公告)日: | 2017-07-21 |
发明(设计)人: | 史晶晶;李诚瞻;刘国友;赵艳黎;周正东;高云斌;吴佳;杨勇雄;刘可安 | 申请(专利权)人: | 株洲南车时代电气股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/04 | 分类号: | H01L21/04 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 412001 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本申请公开了一种制作碳化硅SBD器件的方法及其正面保护方法,包括在碳化硅晶圆正面的氧化层上设置类金刚石膜;去除所述碳化硅晶圆的背面的氧化层;在所述碳化硅晶圆的背面制作欧姆接触;在所述碳化硅晶圆的正面刻蚀窗口;在所述碳化硅晶圆的正面制作肖特基接触。在该方法中,由于类金刚石膜具有良好的抗蚀性和较高的硬度,从而能够保护正面不受腐蚀或划伤,而成膜过程中,成膜物质不会留在晶圆的背面,从而能够提高欧姆接触的可靠性及器件成品率,另外该类金刚石膜可直接作为器件的钝化层,无需去除,从而减少了工序。 | ||
搜索关键词: | 一种 制作 碳化硅 sbd 器件 方法 及其 正面 保护 | ||
【主权项】:
一种制作碳化硅SBD器件的正面保护方法,其特征在于,包括:在碳化硅晶圆正面的氧化层上设置类金刚石膜;利用氢氟酸去除所述碳化硅晶圆的背面的氧化层;溅射欧姆接触金属并进行快速退火,在所述碳化硅晶圆的背面制作欧姆接触;利用所述类金刚石膜和所述氧化层作为钝化层,对所述碳化硅晶圆的正面进行光刻、刻蚀和去胶清洗,在所述碳化硅晶圆的正面形成刻蚀窗口;在所述碳化硅晶圆的正面制作肖特基接触。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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