[发明专利]并行电子束、离子束蚀刻工艺及装置有效
申请号: | 201510037979.4 | 申请日: | 2015-01-26 |
公开(公告)号: | CN104681427B | 公开(公告)日: | 2018-08-10 |
发明(设计)人: | 胡小龙;顾超;朱晓田;程宇豪 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘国威 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及纳米加工领域,为实现并行电子束蚀刻系统以及并行离子束蚀刻系统,加快曝光速度,减小曝光时间,增加产量,降低成本。另外,系统本身的成本也有望低于一般扫描电子束蚀刻系统,为此,本发明采取的技术方案是,一种并行电子束、离子束蚀刻工艺,包括如下流程:(1)准备模板,模板材料采用刚性薄膜;(2)将模板转移到附有蚀刻胶的基底上;(3)将样品放入真空室中,将真空室中气压抽至设定值以下,开始对模板及蚀刻胶进行一定时间的电子束或者离子束曝光;(4)电子束或离子束蚀刻后移走模板,模板可重复利用,蚀刻胶原来的暴露部分性质改变;(5)显影,洗掉性质改变的胶,得到需要图形。本发明主要应用于纳米加工场合。 | ||
搜索关键词: | 并行 电子束 离子束 蚀刻 工艺 装置 | ||
【主权项】:
1.一种并行电子束、离子束蚀刻工艺,其特征是,包括如下流程:(1)准备模板,模板材料采用刚性薄膜;(2)将模板转移到附有蚀刻胶的基底上;(3)将样品放入真空室中,将真空室中气压抽至设定值以下,开始对模板及蚀刻胶进行一定时间的电子束或者离子束曝光;(4)电子束或离子束蚀刻后移走模板,模板可重复利用,蚀刻胶原来的暴露部分性质改变;(5)显影,洗掉性质改变的蚀刻胶,得到需要图形;其中,模板制作流程为串行过程,具体地:(1)将电子束曝光胶附在模板材料上,然后对模板材料进行电子束或离子束刻蚀;(2)移除电子束曝光胶,将模板材料暴露出来,此时模板材料已被刻蚀成需要的形状;(3)从模板材料镂空处向下滴入氢氟酸溶液,溶解掉模板材料下面的二氧化硅薄膜,使二氧化硅薄膜在中间形成凹陷,方便后续将模板材料中心部分取出;(4)用聚二甲基硅氧烷探针将模板材料中心部分即模板取出。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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