[发明专利]并行电子束、离子束蚀刻工艺及装置有效

专利信息
申请号: 201510037979.4 申请日: 2015-01-26
公开(公告)号: CN104681427B 公开(公告)日: 2018-08-10
发明(设计)人: 胡小龙;顾超;朱晓田;程宇豪 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: H01L21/3065 分类号: H01L21/3065
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 刘国威
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及纳米加工领域,为实现并行电子束蚀刻系统以及并行离子束蚀刻系统,加快曝光速度,减小曝光时间,增加产量,降低成本。另外,系统本身的成本也有望低于一般扫描电子束蚀刻系统,为此,本发明采取的技术方案是,一种并行电子束、离子束蚀刻工艺,包括如下流程:(1)准备模板,模板材料采用刚性薄膜;(2)将模板转移到附有蚀刻胶的基底上;(3)将样品放入真空室中,将真空室中气压抽至设定值以下,开始对模板及蚀刻胶进行一定时间的电子束或者离子束曝光;(4)电子束或离子束蚀刻后移走模板,模板可重复利用,蚀刻胶原来的暴露部分性质改变;(5)显影,洗掉性质改变的胶,得到需要图形。本发明主要应用于纳米加工场合。
搜索关键词: 并行 电子束 离子束 蚀刻 工艺 装置
【主权项】:
1.一种并行电子束、离子束蚀刻工艺,其特征是,包括如下流程:(1)准备模板,模板材料采用刚性薄膜;(2)将模板转移到附有蚀刻胶的基底上;(3)将样品放入真空室中,将真空室中气压抽至设定值以下,开始对模板及蚀刻胶进行一定时间的电子束或者离子束曝光;(4)电子束或离子束蚀刻后移走模板,模板可重复利用,蚀刻胶原来的暴露部分性质改变;(5)显影,洗掉性质改变的蚀刻胶,得到需要图形;其中,模板制作流程为串行过程,具体地:(1)将电子束曝光胶附在模板材料上,然后对模板材料进行电子束或离子束刻蚀;(2)移除电子束曝光胶,将模板材料暴露出来,此时模板材料已被刻蚀成需要的形状;(3)从模板材料镂空处向下滴入氢氟酸溶液,溶解掉模板材料下面的二氧化硅薄膜,使二氧化硅薄膜在中间形成凹陷,方便后续将模板材料中心部分取出;(4)用聚二甲基硅氧烷探针将模板材料中心部分即模板取出。
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