[发明专利]实现多片现场可编程门阵列调试的系统及方法有效

专利信息
申请号: 201510033296.1 申请日: 2015-01-22
公开(公告)号: CN104536867B 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 岳自超 申请(专利权)人: 浪潮(北京)电子信息产业有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司11262 代理人: 王康,李丹
地址: 100085 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了实现多片现场可编程门阵列调试的系统及方法,其中方法包括例化每一待测FPGA的信号选择和发送模块按时钟域选择和分组待测信号,并为信号发送配置高速串行收发总线端口;对待测FPGA的设计逻辑与信号选择和发送模块一起进行逻辑综合和布局布线;在调试主机选择的通道对齐工作模式下,用专用测试FPGA按所有待测FPGA的高速串行总线通道中的最长时延找到对齐所有通道的移位信息;调试主机选择待测FPGA的待测信号组,并用待测信号组的频率信息配置通道延时值。本发明用一片专用测试FPGA进行跨FPGA芯片信号的观测和捕获,提高了调试系统故障追踪和定位的效率。
搜索关键词: 实现 现场 可编程 门阵列 调试 系统 方法
【主权项】:
一种多片现场可编程门阵列调试的系统,其特征在于,包括一专用测试现场可编程门阵列、多片待测现场可编程门阵列以及调试主机,其中:待测现场可编程门阵列,分别通过高速串行总线与专用测试现场可编程门阵列连接,并分别通过串行总线与调试主机连接,用于在通道对齐工作模式下例化本片的信号选择和发送模块,按时钟域选择和分组待测信号;在测试工作模式下根据调试主机的选择将本片的待测信号组通过高速串行总线发出;专用测试现场可编程门阵列,通过串行总线与调试主机连接,用于在通道对齐工作模式下按所有待测现场可编程门阵列的高速串行总线通道中的最长时延找到对齐所有通道的移位信息;在测试工作模式下接收并对齐所有通道,例化内部在线逻辑分析仪,捕捉和观测来自不同待测现场可编程门阵列中的待测信号;调试主机,用于选择待测现场可编程门阵列和专用测试现场可编程门阵列的工作模式,并选择待测现场可编程门阵列内的待测信号组,用待测信号组的频率信息配置通道延时值;所述调试主机通过写所述待测现场可编程门阵列的第一专用寄存器的方式选择所述待测信号组,同时将所述待测信号组的频率信息写入所述专用测试现场可编程门阵列的第二专用寄存器来配置通道延时值。
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