[发明专利]一种双光束曝光系统中光栅衍射波面误差的反馈调节方法有效

专利信息
申请号: 201510018356.2 申请日: 2015-01-14
公开(公告)号: CN104570621A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 王世玮;曾理江 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G02B5/18
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 徐宁;刘美丽
地址: 100084 北京市海淀区1*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种双光束曝光系统中光栅衍射波面误差的反馈调节方法,包括以下步骤:1)搭建双光束曝光系统;2)建立三维直角坐标系;3)根据所述基板上得到的浮雕型光栅图像制作得到一光栅样品;4)采用斐索干涉仪测量光栅样品的±1级衍射波面误差,获得双光束曝光系统的干涉像差信息;5)采用泽尼克多项式拟合方法对干涉像差进行拟合计算,估算双光束曝光系统的实际点光源位置误差和基板位置误差;6)对双光束曝光系统的实际点光源位置误差和基板位置误差进行调节;7)重新制作光栅样品;8)如果光栅样品的衍射波面误差不能达到预定要求,重复步骤4)~7)。本发明可以广泛应用于双光束曝光系统中光栅衍射波面误差的反馈调节中。
搜索关键词: 一种 光束 曝光 系统 光栅 衍射 误差 反馈 调节 方法
【主权项】:
一种双光束曝光系统中光栅衍射波面误差的反馈调节方法,包括以下步骤:1)搭建一包括有激光器、分束镜、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、第一扩束准直系统、第二扩束准直系统和基板的双光束曝光系统,所述基板表面涂有光刻胶;所述第一扩束准直系统和所述第二扩束准直系统呈对称设置且结构相同,均包括显微物镜、针孔滤波器和球面准直透镜;所述激光器发射的激光经所述分束镜进行分束,经所述分束镜反射的激光发射到所述第一反射镜,经所述第一反射镜反射的激光依次经所述第一扩束准直系统的显微物镜、针孔滤波器和球面准直透镜准直扩束成平行光后发射到所述基板;经所述分束镜透射的激光经所述第二反射镜发射到所述第三反射镜,经所述第三反射镜反射的激光依次经所述第二扩束准直系统的显微物镜、针孔滤波器和球面准直透镜准直扩束成平行光后发射到所述基板;经所述第一扩束准直系统和所述第二扩束准直系统出射的平行光在所述基板表面发生干涉,形成周期性的干涉条纹,所述光刻胶记录了干涉光场之后,通过显影形成浮雕型光栅图像;2)在基板表面建立三维直角坐标系O0‑X0Y0Z0,其中,原点坐标O0位于理想情况下所述第一扩束准直系统出射的平行光主光线和所述第二扩束准直系统出射的平行光主光线在所述基板的交点,X0轴的方向为垂直于所述基板的法线偏向所述第二扩束准直系统的方向,Z0轴的方向为沿所述基板的法线指向所述基板的内部;在第一扩束准直系统中建立三维直角坐标系O1‑X1Y1Z1,原点坐标O1位于所述第一扩束准直系统中的球面准直透镜的节点,Y1轴的方向和所述三维直角坐标系O0‑X0Y0Z0中Y0轴方向相同,Z1轴的方向为沿着所述第一扩束准直系统光轴方向向前;在所述第二扩束准直系统中建立三维直角坐标系O2‑X2Y2Z2,原点坐标O2位于所述第二扩束准直系统中的球面准直透镜的节点,Y2轴的方向和所述三维直角坐标系O0‑X0Y0Z0中Y0轴方向相同,Z2轴的方向为沿着第二扩束准直系统的光轴方向向前;3)根据所述基板上得到的浮雕型光栅图像制作得到一光栅样品;4)采用斐索干涉仪测量步骤3)中制作得到的光栅样品的±1级衍射波面误差,将测量结果进行减法运算,获得双光束曝光系统的干涉像差信息;5)采用泽尼克多项式拟合方法对步骤4)中得到的双光束曝光系统的干涉像差进行拟合计算,估算双光束曝光系统的实际点光源位置误差和基板位置误差;6)对双光束曝光系统的实际点光源位置误差和基板位置误差进行调节,具体调节过程为:6.1)沿Z1方向调节第一扩束准直系统中点光源位置或沿Z2方向调节第二扩束准直系统中点光源位置,使得第一扩束准直系统和第二扩束准直系统的离焦量相等,实现由离焦误差导致的干涉像差的补偿;6.2)通过沿X1和Y1方向调节第一扩束准直系统中点光源的位置或沿X2和Y2方向调节第二扩束准直系统中点光源的位置,使得第一扩束准直系统和第二扩束准直系统出射的平行光主光线在基板表面入射到同一点;或者只沿Y1方向调节第一扩束准直系统中点光源的位置或只沿Y2方向调节第二扩束准直系统中点光源的位置,同时沿着基板的法线方向移动基板使得第一扩束准直系统和第二扩束准直系统的出射光主光线在基板表面入射到同一点,消除由于第一扩束准直系统和第二扩束准直系统出射的平行光主光线在基板表面入射点不同导致的干涉像差;7)采用调节后的双光束曝光系统重新制作光栅样品;8)如果重新制作的光栅样品的衍射波面误差不能达到预定要求,重复步骤4)~7),直至达到预定要求为止。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学;,未经清华大学;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510018356.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top