[发明专利]用于对多个光模块同时进行测试的系统有效
| 申请号： | 201510011637.5 | 申请日： | 2015-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN104717006B | 公开（公告）日： | 2018-03-27 |
| 发明（设计）人： | 朱天全;鲍胜青;张青翠 | 申请（专利权）人： | 北京奥普维尔科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/07 | 分类号： | H04B10/07 |
| 代理公司： | 北京爱普纳杰专利代理事务所(特殊普通合伙)11419 | 代理人： | 何自刚 |
| 地址： | 100085 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种用于对多个光模块同时进行测试的系统，包括测试单元，用于对多个光模块同时进行测试，以获取光测试信号；数据处理单元，用于接收测试单元发送的光测试信号，并进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据；数据存储单元，用于对所述多个光模块的相关信息数据进行存储，和/或生成测试报告。本发明的优点是第一，结构简单，可以对多个光模块同时进行测试，实现实时监测光模块的温度、供电电压、偏置电流，以及发射和接收光功率等参数的发明目的；第二，应用性强，可以帮助系统管理员预测光模块的寿命、隔离系统故障，不仅节省了时间，提高了测试效率，而且能够避免测试过程中出现的误差，大为提高光测试数据的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 多个光 模块 同时 进行 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于对多个光模块同时进行测试的系统，其特征在于，包括：测试单元，用于对多个光模块同时进行测试，以获取光测试信号；数据处理单元，用于接收测试单元发送的光测试信号，并进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据；数据存储单元，用于对所述多个光模块的相关信息数据进行存储，和/或生成测试报告；所述数据处理单元为FPGA，所述FPGA包括PHY处理模块；所述PHY模块采用DP83848C与MAC的连接电路；REF_CLK由MAC层或外部时钟源提供；所述REF_CLK是一个连续时钟，可以为CRS_DV、RXD、TX_EN、TXD、RX_DV和RX_ER提供时序参考；TX_EN表示MAC层正在将要传输的双位数据放到TXD上，TX_EN的变化相对于REF_CLK是同步的，TXD的变换相对于REF_CLK是同步的。
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