[发明专利]壳聚糖修饰介孔二氧化硅填充杂化膜及制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 201510008419.6 申请日: 2015-01-08
公开(公告)号: CN104607072A 公开(公告)日: 2015-05-13
发明(设计)人: 吴洪;李雪琴;姜忠义;程友东;张诗雨;刘雨辰 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: B01D71/80 分类号: B01D71/80;B01D67/00;B01D53/22
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 李丽萍
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了壳聚糖修饰介孔二氧化硅填充杂化膜,由聚氧乙烯-聚己内酰胺嵌段共聚物和壳聚糖修饰介孔二氧化硅组成。其制备过程包括:制备壳聚糖修饰介孔二氧化硅;配制聚氧乙烯-聚己内酰胺嵌段共聚物溶液;将壳聚糖修饰介孔二氧化硅加入聚氧乙烯-聚己内酰胺嵌段共聚物溶液制得铸膜液,最终制得壳聚糖修饰介孔二氧化硅填充杂化膜。本发明杂化膜的膜分离性能优异,制备方法易于操作,所用膜材料价格低廉。将该杂化膜用于分离CO2/CH4混合气,其CO2通量为1835barrer,CO2/CH4分离因子为36;用于分离CO2/N2混合气,其通量为1943barrer,CO2/N2分离因子为85。
搜索关键词: 聚糖 修饰 二氧化硅 填充 杂化膜 制备 方法 应用
【主权项】:
一种壳聚糖修饰介孔二氧化硅填充杂化膜,其特征在于:该杂化膜厚度70‑105μm,并由质量分数为60‑98%的聚氧乙烯‑聚己内酰胺嵌段共聚物和壳聚糖修饰介孔二氧化硅组成,所述聚氧乙烯‑聚己内酰胺嵌段共聚物中,聚氧乙烯链段占嵌段共聚物质量分数的55‑60%,聚己内酰胺链段占嵌段共聚物质量分数的40‑45%。
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