[发明专利]用于自动分析单颗粒电感耦合的等离子体质谱法中的输出及类似数据集的系统及方法

摘要

本发明提供用于自动分析对应于样本颗粒的光谱数据的方法及系统，例如，在电感耦合的等离子体质谱仪SP‑ICP‑MS的单颗粒模式分析期间所获得的大数据集。本文中呈现针对快速数据处理提供适当的平滑化而无伴随的准确度及/或精度减少(或具有可忽略不计的减少)的技术。

主权项

1.一种用于自动分析对应于样本颗粒的光谱数据的方法，所述方法包括：(a)由计算装置的处理器以足够快的速率对由电感耦合的等离子体质谱仪ICP‑MS所获取的脉冲计数值序列进行存取，以针对对应于包括所述样本中的分析物的个别颗粒的至少一个给定峰值产生多个脉冲计数值，所述多个脉冲计数值中的每一者大于阈值背景强度值；(b)由所述处理器根据所述脉冲计数值的第一阵列确定用于将脉冲计数值识别为对应于峰值信号的阈值，且在一系列迭代中的每一者之后，基于剩余的脉冲计数值调整所述阈值，其中给定的随后迭代进一步排除识别为对应于先前迭代中的峰值的脉冲计数值，其中根据所述阈值在可接受的公差内的收敛确定最终的背景阈值；(c)由所述处理器根据所述脉冲计数值的所述第一阵列建立平滑数据阵列，将所述平滑数据阵列中的大于随后值及先前值两者且大于所述最终背景阈值的所述值识别为峰值；(d)由所述处理器识别对应于所述样本的经识别峰值中的每一者的峰值面积强度，且由所述处理器构建所述样本的峰值面积强度直方图；(e)由所述处理器使用所述样本的所述峰值面积强度直方图计算如下(i)到(ix)中的一或多者：(i)所述样本的颗粒质量直方图，(ii)所述样本的颗粒大小直方图，(iii)针对所述样本所检测到的峰值的数目，(iv)所述样本的颗粒浓度，(v)所述样本的平均颗粒大小，(vi)所述样本的中值颗粒大小，(vii)所述样本的溶解分析物浓度，(viii)模式颗粒大小，及(ix)颗粒大小分布的宽度的测量值；及(f)由所述处理器呈现如下(i)到(xi)中的一或多者的图形及/或字母数字表示以用于在显示器上呈现：(i)所述样本的所述经识别峰值，(ii)所述样本的所述峰值面积强度直方图，(iii)所述样本的所述颗粒质量直方图，(iv)所述样本的所述颗粒大小直方图，(v)针对所述样本所检测到的所述峰值数目，(vi)所述样本的所述颗粒浓度，(vii)所述样本的所述平均颗粒大小，(viii)所述样本的所述中值颗粒大小，(ix)所述样本的所述溶解分析物浓度，(x)所述模式颗粒大小，及(xi)颗粒大小分布的宽度的所述测量值。