[发明专利]质谱分析方法及质谱分析装置有效
| 申请号: | 201480076818.X | 申请日: | 2014-03-05 |
| 公开(公告)号: | CN106062548B | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
| 发明(设计)人: | 工藤恭彦;大林贤一;川名修一 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;G01N30/72 |
| 代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 肖华 |
| 地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明为一种质谱分析方法,其将生成自分析对象化合物的离子中的一个或多个离子作为基准离子,使用针对该基准离子而获得的质谱色谱图来进行试样中所含的所述分析对象化合物的定性及/或定量,该质谱分析方法中,针对所述一个或多个基准离子中的各方而设定一个或多个候选基准离子,并针对所述所设定的候选基准离子中的各方而获取所述试样的质谱色谱图,求所述质谱色谱图上的规定位置上出现的波峰与预先设定的模型波峰的形状类似度,将与所述形状类似度在规定值以上的波峰相对应的候选基准离子确定为所述基准离子。 | ||
| 搜索关键词: | 谱分析 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种质谱分析方法,其将生成自分析对象化合物的离子中的一个或多个离子作为用于表征所述分析对象化合物的基准离子,使用针对该基准离子而获得的质谱色谱图来进行试样中所含的所述分析对象化合物的定性及/或定量,该质谱分析方法的特征在于,a)设定多个候选基准离子,b)使用色谱仪对化合物进行分离并使用质谱仪对电离后的化合物的质荷比进行测量,由此,针对所设定的候选基准离子中的各方而获取所述试样的质谱色谱图,c)求所述质谱色谱图上的规定位置上出现的波峰与由预先定义的函数表示的模型波峰的形状类似度,d)将与所述形状类似度在规定值以上的波峰相对应的候选基准离子确定为所述基准离子。
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